Gebraucht JEOL JSM 6510 #9184193 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 9184193
Weinlese: 2012
Scanning electron microscope (SEM)
Tungsten filament
Includes:
Standard recipe
Stigmator memory
Dual live image
Full size image display
Pseudo color
Digital zoom
Dual magnification
Measurement
Auto image archiving
JED-2300 EDS (JSM-6510LA and JSM-6510A)
Resolution HV mode: 3.0 nm (30 kV), 8nm (3 kV), 15 nm (1 kV)
LV Mode: 4.0 nm (30 kV) (JSM-6510LA and JSM-6510LV)
Magnification: 5 x 300,000 (on 128 mm x 96 mm image size)
Preset magnifications: (5) Steps
Custom recipe:
Operation conditions:
Optics
Image mode
LV Pressure
Image mode:
Secondary electron image
REF Image
Composition (JSM-6510LA and JSM-6510LV)
Topography (JSM-6510LA and JSM-6510LV)
Shadowed (JSM-6510LA and JSM-6510LV)
Accelerating voltage: 0.5 kV to 30 kV
Filament: Factory pre-centered filament
Electron gun: Automated, manual override
Condenser lens: Zoom condenser lens
Objective lens: Super conical objective lens
Objective lens apertures: (3) Stages, XY fine adjustable
Electrical image shift: ± 50 μm (WD = 10 mm)
Auto functions: Focus, brightness, contrast, stigmator
Eucentric large-specimen stage:
X: 80 mm
Y: 40 mm
Z: 5 mm to 48 mm
Tilt: −10° to 90°
Rotation: 360°
Reference image (navigator): (4) Images
Maximum specimen: 150 mm diameter
PC: IBM PC/AT Compatible
OS: Windows 7
Monitor: 19" LCD
Frame store: 640 x 480, 1280 x 960, 2560 x 1920, 5120 x 3340
Multi image display:
(2) Images
(4) Images
Network: Ethernet
Image format: BMP, TIFF, JPEG
Fully automated pumping system:
DP1(Diffusion pump)
RP1(Dough pump)
2012 vintage.
JEOL JSM 6510 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das sowohl für die hochauflösende Charakterisierung als auch für die Bildgebung entwickelt wurde. Es ist mit der neuesten, praxiserprobten Technologie ausgestattet, um eine qualitativ hochwertige Bildgebung und einen erhöhten Durchsatz zu bieten. Mit großem Sichtfeld (FOV) und erhöhter Schärfentiefe (DOF) ist JSM 6510 in der Lage, die feinen Strukturen in Proben aufzulösen. JEOL JSM 6510 verfügt dank seiner hochmodernen Säule über eine überlegene Bildgebungsfähigkeit und ein verbessertes Signal-Rausch-Verhältnis. Es ist mit einer Flachfeldlinse für gleichmäßige und hochauflösende Bildgebung ausgestattet, die Bilder mit hoher Auflösung, hohem Kontrast und hoher räumlicher Auflösung erzeugt. Sein Sekundärelektronendetektor (SED) ist mit einem hochempfindlichen Niederspannungsdetektor und Energiespektrum-Bildgebungsfunktionen ausgestattet, so dass Benutzer analytische Aufgaben mit verbesserter Genauigkeit ausführen können. JSM 6510 bietet Flexibilität durch Mehrfachbeschleunigungsspannung, Elektronendetektion und Bildgebung, wodurch es auf eine Reihe von Proben und analytischen Aufgaben anwendbar ist. Darüber hinaus ist es mit einem automatisierten Probenmontagesystem und automatischer Erkennung von Proben für genaue und wiederholbare Ergebnisse ausgestattet. JEOL JSM 6510 bietet eine Vielzahl von zusätzlichen Funktionen wie Kippstereoskopie, Tomographie, Inspektion und 3D-Bildgebung, um einen umfassenden Überblick über die Probe zu geben. Darüber hinaus verwendet JSM 6510 eine In-Column-Rasterstufe, mit der Benutzer ihre Bilder verfeinern können, indem sie ihren bevorzugten Bildbereich und Parameter wie Neigung, Auflösung usw. auswählen. JEOL JSM 6510 ist auch mit einer offenen Softwareplattform konzipiert, die Benutzern die Flexibilität bietet, ihre Bildgebungsverfahren anzupassen und zusätzliche Funktionen wie automatisierte Routinen hinzuzufügen. JSM 6510 ist ein ideales Werkzeug für eine Vielzahl von Charakterisierungs- und Bildgebungsaufgaben, einschließlich biologischer, ökologischer, materieller und anderer analytischer Anwendungen. Mit seiner Kombination aus fortschrittlichen Bildgebungsfunktionen und benutzerfreundlichen Funktionen kann JEOL JSM 6510 eine hervorragende Bildgebungsleistung bieten.
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