Gebraucht JEOL JSM 6510 #9197947 zu verkaufen

JEOL JSM 6510 ist ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM) für Forschung und industrielle Anwendungen. Das Gerät ist mit einer Hochleistungselektronenquelle zur Erzeugung von Bildern mit einer Auflösung von 4,5 Nanometern für Nieder- und Hochspannungsscans ausgestattet. Es enthält auch inverse und helle Felddetektoren, um sekundäre und zurück gestreute Elektronen zu erfassen, die die Erzeugung hochauflösender 3D-Bilder ermöglichen. JSM 6510 ist in der Lage, eine Vielzahl von On-Board-Bildgebungstechniken, einschließlich zwei- und dreidimensionaler Bildverarbeitung, Analyse von Kristallstrukturen, Linienprofil-Scans, Abbildung von Oberflächentopografien und Zusammensetzungsidentifikation. Darüber hinaus kann der Benutzer eine breite Palette von Operationen und Parametern einrichten, um die Leistung des Geräts an seine spezifische Anwendung anzupassen. Die Probenstufe ist in der Lage, eine kontinuierliche Feindrehung von 0,002 ° zu erreichen und ermöglicht auch automatische Breitfeldmosaike, automatische Driftkorrektur und automatisierte Punkt-und-Klick-Ausrichtung. Mit einem Standard-Arbeitsabstand von 10 mm hat die Bühne einen vollen Bewegungsbereich mit über einem Millimeter Verschiebung in drei orthogonalen Richtungen. JEOL JSM 6510 ist für einen effizienten Benutzerbetrieb ausgelegt. Das Instrument ist mit einer ergonomischen Benutzeroberfläche gebaut und verfügt über ein 19-Zoll-Farbdisplay. Ein Bordcomputer unterstützt auch eine Vielzahl von Netzwerkprotokollen, einschließlich USB und Ethernet, für die Kommunikation mit PCs. JSM 6510 verfügt über eine anspruchsvolle bildgebende Ausrüstung, die eine SEM-Säule mit niedriger Energie, ein Mikrofokussystem und eine einstellbare Kontrast- und Helligkeitsbilanz umfasst. Es wird auch mit einer Energiefiltereinheit und einer energiedispersiven Röntgenanalyse-Maschine geliefert, die es dem Benutzer ermöglicht, Zusammensetzung zu studieren, qualitative Phasenanalysen durchzuführen und die Elementverteilung in der Probe abzubilden. Insgesamt ist JEOL JSM 6510 ein fortschrittliches, leistungsstarkes SEM, das in der Lage ist, eine ausgezeichnete Bildqualität für eine Vielzahl von Anwendungen zu erzeugen. Es ist für den effizienten Einsatz durch erfahrene Forscher konzipiert und kann an die Anforderungen der industriellen Probencharakterisierung angepasst werden.