Gebraucht JEOL JSM 6510 #9263314 zu verkaufen

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ID: 9263314
Weinlese: 2010
Scanning Electron Microscope (SEM) Main body OXFORD EDX (2) Monitors (2) Computers Pumps 2010 vintage.
JEOL JSM 6510 ist ein Rasterelektronenmikroskop mit einer zusätzlichen Umgebungskammeroption. Es ist ideal für das Studium von biologischen und Umweltmaterialien. Dieses leistungsstarke SEM verfügt über eine einzigartige Kombination von Funktionen, die die höchste Flexibilität der Proben und eine qualitativ hochwertige Bildgebung mit einer breiten Palette von Proben bieten. JSM 6510 ist in der Lage, 0.2nm Auflösung und erweiterte analytische Fähigkeiten zur Verfügung zu stellen, bietet ausgezeichnete Bildgebung und Analyse für viele Proben. Das kleine, kompakte System ermöglicht es Anwendern, Proben einfach zu transportieren und vor Ort zu beobachten. Ein eingebauter Bühnenhalter bietet Platz für Proben bis zu 200mm Durchmesser und bis zu 10mm Höhe. Die erweiterten bildgebenden Funktionen des SEM umfassen eine Umgebungskammeroption, die kontrollierte Bedingungen für die Bildgebung und Analyse bietet. Die Umweltkammer ist entweder auf Vakuum oder Gas konfigurierbar, so dass Proben in einer nativen Umgebung oder Wechselwirkungen zwischen der Probe und einer kontrollierten Umgebung beobachtet werden können. Die hochauflösenden Bildgebungs- und Analysefunktionen von JEOL JSM 6510 werden durch SE-, BSE- und EDX-Detektoren verbessert. Diese Detektoren ermöglichen eine breite Palette von Bildgebungs- und Analysemodi, einschließlich Polarisation, Emissionsdetektion, Rückstreuelektronenbildgebung und energiedispersive Spektroskopie. Zusätzlich kann die Position der Detektoren eingestellt werden, um eine optimale Bildgebung für anspruchsvolle Proben zu gewährleisten. Die Betriebs- und Abbildungsgeschwindigkeit von JSM 6510 wird von zwei CO-XE4 Detektoren angetrieben und bietet eine schnelle dynamische Bildgebung mit verbesserter Genauigkeit und Auflösung. Dual, Quad, Mono- und Stereo-Bildgebungsmodi sind ebenfalls verfügbar und ermöglichen eine Reihe von bildgebenden Anwendungen. Zu den fortschrittlichen Funktionen von JEOL JSM 6510 gehören automatisierte Bildverarbeitung, Off-Axis-Bildverarbeitung und Videoaufzeichnung für einen eingehenden Studien- und Bildvergleich. Die integrierten Funktionen sind mit einer benutzerfreundlichen Oberfläche integriert, so dass Anwender die bildgebenden Bedingungen schnell und einfach bedienen und optimieren können. Der integrierte Ständer am SEM ermöglicht es Anwendern, das Mikroskop schnell in einer vertikalen oder horizontalen Position für eine optimierte Bildgebung einzustellen. JSM 6510 Rasterelektronenmikroskop ist ein leistungsfähiges Werkzeug für die fortgeschrittene Bildgebung und Analyse von biologischen und Umweltproben. Es verfügt über eine breite Palette von Funktionen, die Benutzer mit verbesserter Genauigkeit und Geschwindigkeit für ihre Studien.
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