Gebraucht JEOL JSM 6510LA #293607337 zu verkaufen

JEOL JSM 6510LA ist ein Rasterelektronenmikroskop (Rasterelektronenmikroskop), das in der Lage ist, hochauflösende Bilder und Analysen bereitzustellen. Diese Art von Gerät ist in Bereichen wie Materialwissenschaft, Metallographie und Elektronik weit verbreitet, um Oberflächen- und Untergrundinformationen über Proben bereitzustellen. JSM 6510LA ist mit einer breiten Palette von Funktionen ausgestattet, die es ermöglichen, präzise und detaillierte Bilder aus einer breiten Palette von Materialien zu produzieren. Dazu gehört eine Schottky-Elektronenquelle, die in der Lage ist, eine sehr kleine Elektronenfleckgröße zu erzeugen, was zu hochauflösenden Bildern führt. Darüber hinaus ist das SEM auch mit einem Inlinsen-Sekundärelektronendetektor ausgestattet, der in der Lage ist, die dreidimensionale Oberflächenmorphologie einer Probe zu beobachten und direkt auf dem Monitor anzuzeigen. JEOL JSM 6510LA ist mit einer Reihe von automatisierten Funktionen ausgestattet, die die Bedienung und Durchführung von Analysen ohne umfangreiche Benutzereingaben erleichtern. Dazu gehören ein automatisiertes Bildnahtsystem, ein automatisiertes Probenausrichtungssystem, ein automatisierter Rückstreuelektronendetektor und ein automatisiertes Bildskalierungssystem. Diese Funktionen ermöglichen es Benutzern, Bilder schnell und präzise zu analysieren, ohne manuell Koordinaten eingeben oder Beispielorientierungen überwachen zu müssen. Neben den automatisierten Funktionen ist JSM 6510LA auch mit einer Reihe von manuellen Bedienelementen ausgestattet, die es Anwendern ermöglichen, die Einstellung der Elektronenstrahlkanone einzustellen. Dazu gehören unter anderem Einstellungen für die Beschleunigungsspannung, Spotgröße, Helligkeit und Astigmatismus. Die manuelle Steuerung ermöglicht es dem Benutzer, die Parameter des Elektronenstrahls genau zu steuern, um Bilder zu erzeugen, die auf ihre spezifischen Anforderungen zugeschnitten sind. JEOL JSM 6510LA ist mit einer Reihe von analytischen Fähigkeiten ausgestattet, einschließlich SEM-basierte Röntgendispersive Spektroskopie (XEDS), Elektronen-Backscatter-Beugung (EBSD) und Energie-dispersive Röntgenanalyse (EDAX). Diese Analysetechniken ermöglichen es Anwendern, Einblicke in die strukturelle und chemische Zusammensetzung einer bestimmten Probe zu gewinnen, wodurch fundiertere Entscheidungen getroffen werden können. JSM 6510LA ist ein zuverlässiges und leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das in der Lage ist, detaillierte und genaue Bilder einer Vielzahl von Materialien zu erzeugen. Angetrieben durch die Kombination von automatisierten Funktionen und manuellen Steuerungen ermöglicht dieses SEM eine genaue Analyse der Oberflächen- und Untergrundeigenschaften einer Probe und ist damit ein wertvolles Werkzeug in vielen wissenschaftlichen und industriellen Anwendungen.