Gebraucht JEOL JSM 6510LV #293629371 zu verkaufen

JEOL JSM 6510LV ist ein variables Druck-Rasterelektronenmikroskop (VP-SEM), das eine überlegene Probenbildgebung mit hoher Auflösung und überlegener Schärfentiefe bietet. Die Objektivlinse des Instruments ist für den Einsatz mit einem breiten Spektrum von Elektronenenergien zur Abbildung bei unterschiedlichen Vergrößerungen ausgelegt. Dadurch können Bilder in verschiedenen Tiefen und Auflösungen aufgenommen werden. JSM 6510LV ist mit einer ultrahochenergetischen Elektronenkanone von 20 kV bis 200 kV, einer umfangreichen Palette von In-Column-Filter- und Gun-Control-Optionen und einer einzigartigen Kombination aus Säulenkippe und Rotation ausgestattet, um eine präzise Probenausrichtung und maximale Bildqualität zu ermöglichen. Der integrierte Umgebungs-Rasterelektronendetektor (ESED) bietet eine hervorragende Leistung in Kombination mit den höchsten Empfindlichkeitsbedingungen. Dadurch erreicht der Anwender die beste Kombination aus Partikelauflösung und Empfindlichkeit. JEOL JSM 6510LV bietet auch mehrere bildgebende Modi, einschließlich Sekundärelektronenbildgebung, Dunkelfeldbildgebung und energiefilterte Rückstreubildgebung. Dadurch kann der Anwender Oberflächen in unterschiedlichen Winkeln und Tiefen abbilden, ohne dass eine Probenvorbereitung oder -beschichtung erforderlich ist. JSM 6510LV verfügt über eine beeindruckende Reihe von Merkmalen, einschließlich Proben- und Teilvakuumstufen, eine Probenkammer mit differentieller Pumpfähigkeit und die Fähigkeit, Proben mit einem Durchmesser von 54 mm abzubilden. Darüber hinaus verfügt das Instrument über ein optionales Autofokussiersystem, das eine präzise Fokusregelung und Probenbildgebung ermöglicht. JEOL JSM 6510LV bietet eine erweiterte Reihe von Steuerungsfunktionen wie ein Autotilt-Werkzeug, einen Partikelfilter mit einstellbaren Parametern und einen Kartenfilter. Das Instrument bietet dem Benutzer auch Zugriff auf eine Reihe von bildgebenden Software-Tools, einschließlich fortschrittlicher Partikelanalyse, Bildvergleich und Berichtsgenerierung. JSM 6510LV ist ein ideales Instrument für eine Vielzahl von Anwendungen, einschließlich Bildgebung von Nanomaterialien, Halbleiterherstellung, Biotechnologie-Forschung und Forensik. Es bietet überlegene Bilder, vielseitige Bildgebungsfunktionen und ist einfach zu bedienen und zu warten. All diese Eigenschaften machen JEOL JSM 6510LV ein überlegenes Rasterelektronenmikroskop.