Gebraucht JEOL JSM 6510LV #293630488 zu verkaufen

JEOL JSM 6510LV Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein spezialisiertes Mikroskopie-Instrument, das zur Abbildung und Analyse von Objekten im Submikron-Maßstab verwendet wird. Dieses Instrument kann Proben bis zum 500000-fachen seiner tatsächlichen Größe vergrößern, so dass es ideal ist, um komplizierte Strukturen aufzudecken und Messungen von sehr kleinen Objekten vorzunehmen. Das Mikroskop hat auch die Fähigkeit, Potentialveränderungen zu erkennen und anzuzeigen, so dass die Materialanalyse mit einer sehr hohen Auflösung durchgeführt werden kann. JSM 6510LV verfügt über eine Elektronensäule, die sowohl für den variablen Druck als auch für den Niedervakuum-Modus ausgelegt ist. Der Elektronenstrahl ist auf fünf verschiedene Spannungseinstellungen optimiert. JEOL SEM verwendet eine hochauflösende Digitalkamera, um Bilder in digitalem Format zu erfassen und zu speichern. Ein hochauflösender Monitor und eine Touchscreen-Konsole ermöglichen es dem Benutzer, mit dem Instrument zu interagieren, die Betriebseinstellungen zu optimieren und schnell auf gespeicherte Bilder zuzugreifen. Der Hersteller entwarf JEOL JSM 6510LV für Nieder- und Hochvakuumbetrieb. Dies bedeutet, dass sowohl Umweltproben als auch biologische Proben analysiert werden können, ohne Sorgen vor einer Kontamination durch atmosphärische Gase zu haben. Das Mikroskop verfügt außerdem über einen EDX-Detektor, der eine elementare Analyse der Probe ermöglicht. Das Instrument ist in der Lage, eine Reihe von Detektoren anzuwenden, einschließlich rückgestreuter Elektronen, übertragener Elektronen und Sekundärelektronen, die verwendet werden können, um verschiedene strukturelle Details aufzudecken und verschiedene analytische Informationen bereitzustellen. JEOL Scanning Electron Microscope bietet mit seinem In-Column Auto-Focus System und Hochleistungsstabilisator eine hervorragende Bildauflösung, die sehr detaillierte und klare Bilder liefert. Darüber hinaus stehen fortgeschrittene Bildgebungstechniken wie SEMEBSD-Analyse, SEET-Analyse und SED-Messung zur Verfügung, um Forscher bei der Gewinnung der nützlichsten Ergebnisse aus ihren Experimenten zu unterstützen. JEOL SEM verfügt außerdem über eine computergesteuerte Probe und ein Bühnensystem, das eine automatisierte Betrachtung und Analyse von Proben ermöglicht. Insgesamt ist JSM 6510LV Scanning Electron Microscope ein äußerst vielseitiges Instrument, das strukturelle Details bis in die Nanometerskala aufdecken kann. Seine Fähigkeit, Informationen über Potenziale sowie seine analytischen Techniken anzubieten, macht es zu einem unschätzbaren Werkzeug für eine Reihe von Forschungsanwendungen. Darüber hinaus ermöglicht die benutzerfreundliche Oberfläche, die hochauflösende Bildgebung und der stabile Betrieb eine mühelose und präzise Bedienung.