Gebraucht JEOL JSM 6510LV #293661215 zu verkaufen

JEOL JSM 6510LV ist eine Art Rasterelektronenmikroskop (SEM). Das SEM verwendet die neueste Technologie, um überlegene Leistung, mehr Benutzerfreundlichkeit und breitere Fähigkeit zu bieten. Dieses Gerät wurde entwickelt, um den Benutzern Nanometer-Bildgebungsfunktionen zu bieten, die für die Beobachtung nanoskaliger Merkmale einer Probe erforderlich sind. Dieses Mikroskop verfügt über eine Arbeitskammer mit variablem Druck, die eine Beobachtung unter Niedervakuum (bis zu 0,3 Pa) oder atmosphärischen Bedingungen ermöglicht und Freiheit von der Probenvorbereitung bietet. Seine neu verabschiedete Schottky Feldemissionselektronenquelle und Gasfeld Emissionskanone ermöglichen hochauflösende Bildgebung mit einem Minimum an Probenvorbereitung. JSM 6510LV enthält auch einen energiedispersiven Röntgendetektor, mit dem der Benutzer Halbleiterstrukturen und andere winzige Komponenten messen kann. Das Spektrometer ist auch in der Lage, qualitative und quantitative Bewertungen jedes Elements in der Probe vorzunehmen. Das benutzerfreundliche Design des Mikroskops ermöglicht ein breites Anwendungsspektrum. Ein direktes Eingabefenster ermöglicht es dem Benutzer, Parameter des Bilderfassungsprozesses einzugeben, während die One-Touch-Taste einen einfachen und dennoch effizienten Workflow bietet. Das Mikroskop verfügt auch über ein Computersteuerungssystem, mit dem der Benutzer verschiedene Parameter ohne manuelle Eingabe einstellen kann. JEOL JSM 6510LV ist mit einem fortschrittlichen Digitalkamerasystem ausgestattet. Bilder können als 16-Bit-Graustufen- oder Farb-JPEG-Dateien gespeichert werden. Dieses Mikroskop kann auch für die automatische Bildübertragung mit einem USB- oder Ethernet-Kabel verwendet werden. Für eine verbesserte Mikroskopleistung verfügt JSM 6510LV über einen Alpha-Strahlendetektor mit einstellbarem Bildkontrast, ein Stufenschwingungskompensationssystem mit motorisierten X-Y-Z-Stufen zur Bedienerfreundlichkeit und einen motorisierten Fokussierungsmechanismus zur präzisen Probenbildgebung. Dieses hoch entwickelte Mikroskop ist eine ideale Wahl für Forscher, die ein fortschrittliches SEM suchen. Die neueste Technologie und Funktionen machen es zu einer idealen Wahl für eine breite Palette von Anwendungen, einschließlich, aber nicht beschränkt auf nanoskalige Bildgebung, Halbleiterstrukturen, Mikroelementanalyse und andere Forschungsbereiche.