Gebraucht JEOL JSM 6510LV #293671225 zu verkaufen

JEOL JSM 6510LV ist ein erstklassiges Rasterelektronenmikroskop (SEM), das leistungsstarke Bildgebungs- und Analysefunktionen unterstützt. Es verwendet eine Energie-dispersive Spektrometrie (EDS) Ausrüstung, um überlegene Leistung in der Bildgebung und mikroanalytischen Messungen zu liefern. Das System bietet hochauflösende Bilder sowohl im Hochvakuum- als auch im Niedervakuummodus. Das Mikroskop ist mit einer Ultrahochvakuumkammer ausgestattet, die ein Niveau von besser als 5 × 10-6 Torr erreichen kann. Dieses Vakuumniveau verbessert die Kontrastauflösung und Bilddetails bei Verwendung eines Hochvakuummodus drastisch. Der Niedervakuum-Modus verwendet ein umweltfreundliches Neutralgas, um den Strahlstrom zu reduzieren. Die EDS-Einheit besteht aus einer rundenmontierten Suchspule, die sich bis zu 8mm erstreckt. Es verfügt über eine ultrahochauflösende Messung bis zu 0,02% absolut für ein einzelnes Pixel. JSM 6510LV verfügt über eine fortschrittliche bildgebende Maschine mit variablem Druck. Diese Funktion ermöglicht die automatische Einstellung des Scandrucks für eine optimale Bildgebung bis auf 5,10-3 Torr. Das Mikroskop verwendet auch einen hochauflösenden Backscatter Detektor (BSD), um Proben mit einem hohen Z-Kontrast genau zu messen. Das BSD verwendet einen Vier-Elemente-Boroxid-Filter, der qualitativ hochwertige Bilder durch Reduzierung des Rauschpegels erzeugt. Darüber hinaus bietet das PAIS (Patterned Analysis and Imaging Tool) hochmoderne Bildgebung und Mikroanalyse durch die Anwendung von Klassifikationsmustern. JEOL JSM 6510LV ist auch entworfen, um Wartungskosten zu minimieren. Es verfügt über einen materialsparenden O-Ring, der Verschmutzungen verhindert und den Bedarf an häufiger Reinigung reduziert. Das integrierte Environmental Control Model (ECS) sorgt dafür, dass das Mikroskop mit optimalen Bedingungen für optimale Leistungen arbeitet. Eine computergesteuerte Kühleinrichtung hält den Geräuschpegel aufrecht und ermöglicht geringe Vibrations- und Temperaturregelungen. Schließlich hilft ein integrierter Datenbankserver, die Einstellungen und Parameter des Mikroskops für einen einfachen Zugriff zu verwalten. Insgesamt ist JSM 6510LV ein fortschrittliches SEM, das sowohl im Hochvakuum- als auch im Niedervakuummodus überlegene Ergebnisse liefert. Es ist gut geeignet für Forscher, die klare und detaillierte Bilder sowie hochauflösende mikroanalytische Messungen benötigen. Darüber hinaus trägt das wartungsfreundliche Design dazu bei, Kosten zu senken und gleichzeitig eine optimale Leistung zu gewährleisten.