Gebraucht JEOL JSM 6600 #177690 zu verkaufen

JEOL JSM 6600 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein leistungsstarkes und vielseitiges Instrument, das für eine Vielzahl von Materialien und Anwendungen verwendet werden kann. Dieses Mikroskop ist mit einem energiedispersiven Röntgenanalysator und einer Elektronenkanone ausgestattet, die eine hervorragende Leistung in der Bildgebung, chemischen Analyse und anderen Anwendungen bietet. Das System verwendet die neueste Generation von Feldemissionskathoden, mit denen die Probe schnell und genau gescannt werden kann. Diese Technologie sorgt für eine außergewöhnliche Bildauflösung und ermöglicht dennoch eine hohe Vergrößerung bis zu 30.000x. Das Instrument verfügt auch über einen Detektor, der eine große Schärfentiefe und hohe Empfindlichkeit hat, um eine breite Palette von Elementen in der Probe zu detektieren. Das SEM ist mit einer motorisierten Scanstufe und einem Softwarepaket ausgestattet, mit dem Bediener ihre Einstellungen für ein bestimmtes Exemplar anpassen können. Dazu gehören Einstellungen für Stufengeschwindigkeit, Zeitsteuerung für sequentielle Scans, Vergrößerungseinstellungen und Einstellungen für Elektronenstrom und Beschleunigungsspannung. JEOL JSM-6600 ist auch mit einem automatisierten rückgestreuten Elektronendetektor zur Verwendung in Bildern nichtleitender Materialien ausgestattet. Dieses Gerät verwendet einen computergesteuerten Scan-Algorithmus, um feine Details der elementaren Verteilung in der Probe zu verfolgen. Darüber hinaus verfügt JSM 6600 über erweiterte Funktionen wie ringförmige Dunkelfeld-Bildgebung, Kathodolumineszenz-Bildgebung und einen Partikelsondendetektor, um Partikel in der Probe zu detektieren. Mit diesem Instrument können auch dreidimensionale Bilder der Probe erzeugt werden. Das System kann auch in Verbindung mit anderen Instrumenten eingesetzt werden, um eine umfassendere Analyse zu erreichen. Dazu gehören die Verwendung von Rasterübertragungselektronenmikroskopie, Elektronenenergieverlustspektroskopie, energiedispersive Röntgenspektroskopie und niederenergetische Elektronenbeugung. JSM-6600 ist ein vielseitiges Rasterelektronenmikroskop, das sowohl eine überlegene Bildauflösung als auch eine chemische Analyse von Proben ermöglicht. Dieses Hochleistungsinstrument ist eine gute Wahl für fortgeschrittene Werkstoffanalyseanwendungen.