Gebraucht JEOL JSM 6600 #293824665 zu verkaufen
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ID: 293824665
Scanning Electron Microscope (SEM)
IdFix Energy-Dispersive X-ray Spectroscopy (EDX) system
X-Ray detector
Convent image processing system
Lens system:
Condenser lens
Objective lens
Operating mode:
SEM1
ECP
EMP
PSCN
Specimen movement range:
Direction (X, Y, Z):
X: 160 mm
Y: 160 mm
Z: 31 mm
Tilt: 0° to 60°
Rotation: 360°
Scan mode:
Pic
RD2
RD4
RDC
LSP
BUP
SPT
Power supply: 240 / 220 / 200 / 180 V, 50 / 60 Hz single phase, 6 kW.
JEOL JSM 6600 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das speziell entwickelt wurde, um überlegene Leistung, überlegene Benutzerfreundlichkeit und überlegene Flexibilität für Anwendungen von Mikrostrukturbeobachtung bis hin zu fortschrittlichen analytischen Fähigkeiten zu bieten. JEOL JSM-6600 ist mit einer Kaltfeld-Emissionskanone (FEG) ausgestattet, die hochauflösende Bilder mit geringem Hintergrundrauschen bietet. Dies ermöglicht eine detaillierte Analyse von Materialien mit überlegenem Bildkontrast und Bildqualität. JSM 6600 verfügt außerdem über einen digitalen Hochgeschwindigkeits-Signalprozessor (DSP) zur Datenerfassung und Bildverarbeitung, der eine schnellere Bildaufnahme und Bildmanipulation ermöglicht. JSM-6600 verfügt auch über ein überlegenes Bildgebungssystem mit optionaler integrierter ladungsgekoppelter Gerätebildgebung sowohl im Sekundär- als auch im Backscatterelectron-Modus. Dies bietet hochauflösende Bilder mit einer Vielzahl von Vergrößerungsfunktionen. Das bildgebende System umfasst auch eine Vielzahl von Kontrastverbesserungstechnologien, die einen überlegenen Kontrast und Bildklarheit ermöglichen. JEOL JSM 6600 hat eine Reihe von analytischen Fähigkeiten, die Energie-dispersive Röntgenspektroskopie (EDS) und Wellenlängen-dispersive Röntgenspektroskopie (WDS) für elementare und chemische Analyse umfassen. Diese Fähigkeiten ermöglichen eine präzise elementare und chemische Analyse und Kartierung von Materialien. JEOL JSM-6600 kann auch mit einer Vielzahl von -sample Haltern ausgestattet werden, einschließlich Standard-Probenhalter, Kryo- Halter, und flüssigen Stickstoff, die eine Reihe von Probenmanipulationstechniken für eine Vielzahl von Anwendungen bieten. JSM 6600 ist ein technologisch fortschrittliches, zuverlässiges und vielseitiges Werkzeug für die Materialanalyse und Mikrostrukturbeobachtung. Dieses SEM bietet überlegene Leistung, Benutzerfreundlichkeit und Flexibilität und ist damit eine ideale Wahl für eine Vielzahl von Anwendungen in verschiedenen Branchen.
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