Gebraucht JEOL JSM 6600 #9107243 zu verkaufen

JEOL JSM 6600
ID: 9107243
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 6600 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine Kombination aus hochauflösenden bildgebenden und analytischen Funktionen bietet. Dieses SEM umfasst eine Umweltprobenkammer, die eine zerstörungsfreie Abbildung von Proben und eine Probenvorbereitung in kontrollierter Umgebung mit Temperaturen zwischen 50 und 200 ° C ermöglicht. JEOL JSM-6600 ist in der Lage, die Auflösung von Bildern um bis zu 100.000 Mal zu erhöhen, was die Visualisierung von nanogroßen Funktionen ermöglicht. Darüber hinaus enthält dieses SEM einen integrierten Energy Dispersive Spectroscopy (EDS) -Detektor zur Kartierung und Elementaranalyse in situ. JSM 6600 wird von der GreenSTEM Energiespartechnologie angetrieben, die den Bildgebungsprozess optimiert. Diese Technologie basiert auf einem Hochleistungsdetektor, der die Zeit für die Aufnahme von Bildern in Bereichen mit hohem Kontrast verringert und zu einer benutzerfreundlichen Bedienung führt. Die abgebildeten Daten können direkt auf dem Display in Echtzeit analysiert und verändert werden, so dass Parameter angepasst werden können. JSM-6600 ist ein SEM mit hoher Spezifikation, das einen Schnellstrahl-Ausblendtreiber, eine digitale drehbare Suite, einen Ausblendfokus-Positionsmonitor und einen fortgeschrittenen zurück gestreuten Elektronendetektor aufweist. Das Detektordesign ermöglicht eine kontrastreiche Abbildung von Proben und eine breite Palette von Probengrößen. Zusätzlich ist dieses hochauflösende SEM mit einer Inkammer-Vakuumdurchführung ausgestattet, wodurch beim Austausch der Instrumente ein Öffnen der Kammer entfällt. Dieses Mikroskop wird über eine benutzerfreundliche Oberfläche betrieben, die einen intuitiven Workflow bietet und es ermöglicht, die SEM-Parameter zu speichern und mit anderen Benutzern zu teilen. Für mehr Flexibilität ist JEOL JSM 6600 in der Lage, sowohl im Vakuum- als auch im Luft-Umgebungsmodus zu arbeiten, was die Abbildung von Proben ermöglicht, die eine kontrollierte Atmosphäre erfordern. Das Instrument ist auch mit einem automatisierten Fokuserkennungssystem ausgestattet, um sich schnell auf eine Reihe von Proben einzustellen. JEOL JSM-6600 ist ein komplexes und vielseitiges SEM-System, das mit einem beeindruckenden Leistungsspektrum ausgestattet ist und in Bereichen von Wissenschaft bis Industrie eingesetzt werden kann. Dank seiner fortschrittlichen bildgebenden Funktionen und seines energiesparenden Designs ist es eines der leistungsfähigsten und effizientesten Rasterelektronenmikroskope, die derzeit auf dem Markt sind.
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