Gebraucht JEOL JSM 6600 #9122948 zu verkaufen

JEOL JSM 6600, ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), ist ein fortschrittliches Analysegerät, das zur Untersuchung der nanoskopischen und mikroskopischen Strukturen vieler verschiedener Materialtypen verwendet wird. Es ist ein äußerst erfolgreiches und zuverlässiges Instrument, das es Forschern ermöglicht, Strukturen zu visualisieren und zu analysieren, die normalerweise zu klein für das bloße Auge sind, um sie zu beobachten, und verschiedene physikalische Eigenschaften zu identifizieren und zu messen, die durch die von ihm erzeugten Signale bereitgestellt werden. JEOL JSM-6600 ist ein hochauflösendes SEM, das einen energiedispersiven Röntgendetektor (EDX) verwendet, um Zusammensetzungsinformationen und ein monochromatisches System bereitzustellen, um Informationen sowohl über den chemischen Kontrast als auch über die Topographie einer Probe zu liefern. Das hochentwickelte Design des SEM sorgt auch dafür, dass es eine hohe Empfindlichkeit von 10nA bis hin zu 0.15nA bietet und eine hervorragende Detektion der kleinsten Partikel ermöglicht. Die Fähigkeiten des SEM werden durch den großen Arbeitsabstand von 130mm bis 200mm weiter erhöht, so dass der Anwender große Proben wie Wafer und sperrige Bauteile sowie Probenstufen mit bis zu 400mm Durchmesser beobachten kann. Die Auflösung dieses SEM ist auch außergewöhnlich, mit Vergrößerungen so hoch wie 350000X gibt dem Benutzer die Möglichkeit, extrem feine Details in der Probe zu beobachten, und einem sekundären Elektronendetektor, der hoch detaillierte Bilder gewährleistet. Es hat auch einen breiten Beschleunigungsspannungsbereich von 1 bis 30kV, wodurch eine Vielzahl von Materialien und Experimenten durchgeführt werden können. JSM 6600 enthält auch verschiedene Sicherheitsfunktionen, um Schäden an der Ausrüstung und dem Bediener zu verhindern, wie z. B. einen Sicherheitstürverriegelungsschalter und ein Ionenschutz-Gittersystem, das die Aufladung und Kondensation von Molekülen auf die Proben reduziert. Die Software für das SEM ist benutzerfreundlich und Daten können einfach über einen USB-Anschluss übertragen werden. Abschließend ist JSM-6600 ein äußerst präzises Instrument, das sehr detaillierte Bilder von Oberflächenstrukturen liefert und somit eine ideale Wahl für die nanoskalige Forschung in Bereichen wie Materialwissenschaften, Mikroelektronik und biomedizinische Forschung darstellt. Die hohe Vergrößerung, Auflösung, Stromversorgung und Sicherheit sorgen dafür, dass das Instrument den Anforderungen vieler Forscher gerecht wird und präzise und zuverlässige Ergebnisse und Daten liefert.