Gebraucht JEOL JSM 6600 #9136256 zu verkaufen

ID: 9136256
Scanning electron microscope (SEM) Digital camera Wafer load lock Denka lab6 cathodes with 10 to 15 spares NORAN EDS Spare parts: (1) Extender: MP001569-01 (1) Extender: AP002139(00) (1) Vacuum controller: AP001129-01 (1) MAG PWRAMP: 152048-1/1 (1) PS RGLTR CCT 1 SM151003 (1) CRT PAT: 1520048-1/1 (1) PA RGLTR CCT 2 1520048-1/1 (1) Specimen current amplifier type 103B (1) PCSM-PCD40D: EP380131 (1) EVTH DETECTOR PMT (14) Wehnelt assemblies: 804302090 (6) Wehnelt assemblies with LaB6 804302090 (3) Wehnelt assemblies withLaB6 804302090 (2) Wehnelt assemblies with LaB6 804302090 (1) Wehnelt assembly with LaB6 804302090 (2) Anodes (5) Tools (1) Silicon wafer holder 8 1/4" W/5 50MM (1) Silicon wafer holder 6 1/4" W/5 40MM (2) Silicon wafer holder 5 1/4" W/5 25MM Includes manual.
JEOL JSM 6600 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das für den Betrieb in Forschungsumgebungen entwickelt wurde. Die Verwendung dieses Gerätes ermöglicht es dem Forscher, die Struktur einer Vielzahl von Proben zu beobachten und zu analysieren, von biologischen bis hin zu materialbasierten Proben. JEOL JSM-6600 arbeitet mit einer Beschleunigungsspannung zwischen 0,1 und 30 kV und einem Ultrahochvakuum-Vakuum-Modus von bis zu 4,5 x 10-7 Pa, wodurch es sowohl mit trockenen als auch nassen Proben betrieben werden kann. Dieses Mikroskop ist mit einer Vielzahl fortschrittlicher Elektronenoptiken ausgestattet, darunter eine Feldemissionskanone und eine Polstück-Abtastlinse. Dies bedeutet, dass der Strahl genau gerichtet werden kann, um Bilder zu erfassen und Daten von der Probe zu sammeln. Die hohe Leistung von JSM 6600 ermöglicht auch eine genauere Analyse der Proben. Beispielsweise kann die energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) zur Durchführung einer elementaren Mikroanalyse verwendet werden, wodurch die Oberflächenzusammensetzung von Materialien gemessen werden kann. Neben der Elementaranalyse können der panchromatische Detektor und der sichtbare Bilddetektor (VID) verwendet werden, um dem Forscher ein Bild der Probe in Farbe bereitzustellen. JSM-6600 ist mit einer Touchscreen-Benutzeroberfläche ausgestattet, wodurch es einfacher denn je ist, die Einstellungen des Mikroskops anzupassen und seine leistungsstarken Fähigkeiten zu erkunden. Darüber hinaus ermöglichen die automatisierten Verfahren dem Anwender Zeit zu sparen, da das Mikroskop mehrere Proben gleichzeitig bearbeiten kann. Insgesamt ist JEOL JSM 6600 aufgrund seiner Vielseitigkeit und fortschrittlichen Fähigkeiten eines der gefragtesten Rasterelektronenmikroskope auf dem Markt. Es ist in der Lage, qualitativ hochwertige Bilder zu liefern und die Zusammensetzung der Probe genau zu messen, was zu überlegenen Forschungsergebnissen führt.
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