Gebraucht JEOL JSM 6600F #9395491 zu verkaufen

JEOL JSM 6600F ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine innovative Hybridausrüstung verwendet, die sowohl thermische Feldemissionen (TFE) als auch Hochhelligkeitsfeld-Emissionsquellen (HBF) enthält. Diese Hybrid-Source-Technologie bietet eine vielseitige Plattform, die sich ideal für eine Vielzahl von Anwendungen in Forschung und Industrie eignet, darunter Materialwissenschaft, Nanotechnologie, Halbleiterverarbeitung und Bioimaging. Das Instrument verfügt über eine leistungsstarke Hochgeschwindigkeits-Pistole, die ein zuverlässiges Sichtfeld für genaue Bildgebung und ausgezeichnete Auflösung liefert. Sein SE2 (Secondary Electron) Detektionssystem bietet eine genaue Analyse topographischer Informationen sowie kontrastreiche Bilder der Oberflächeneigenschaften von Proben. Darüber hinaus können JEOL- JSM-6600F mit einer Vielzahl zusätzlicher analytischer Fähigkeiten ausgestattet werden, einschließlich der energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDS) zur Detektion von Elementen mit hohen Ordnungszahlen und der Elektronenrückstreuung (EBSD) für quantitative kristallographische Messungen. Die fortgeschrittene Probenstufe von JSM 6600F ermöglicht eine präzise manuelle und automatisierte Steuerung der vertikalen und seitlichen Bewegung mit einer maximalen Probenstufengeschwindigkeit von 5mm/sec. Die extra große Probenfläche der Bühne kann Proben mit bis zu 6 Zoll Durchmesser aufnehmen und bietet Flexibilität in der Handhabung von Proben. Darüber hinaus ermöglicht die hochempfindliche Joystick-Steuerung eine präzise Positionierung der Probe und erzeugt präzise Bilder mit optimalem Kontrast und optimaler Auflösung. JSM-6600F bietet auch eine breite Palette von anderen Funktionen, um die Bedürfnisse von Forschern und Ingenieuren zu erfüllen. Eine Vakuumkammer mit doppelter Evakuierungsfähigkeit hilft, Strahldrift und Aufladung von Proben zu reduzieren. Eine optionale Auto-Fokus-Einheit erleichtert die Einstellung und Ausrichtung der Proben. Das Instrument umfasst auch eine Luftschleuse zum Be- und Entladen von Proben, eine Videokamera zur Fernansicht und ein einfach zu bedienendes grafisches Steuerungswerkzeug. Schließlich wird die hervorragende Leistung von JEOL JSM 6600F durch seine zuverlässige Konstruktion und Hochleistungsspezifikationen unterstützt. Die temperaturgesteuerte Umgebung im Inneren des Instruments reduziert thermische Ausdehnungsänderungen und bietet eine stabile Plattform für die Bildgebung. Die schnelle Initialisierung des Asset beschleunigt die Anlaufzeit weiter. Ein Ionenstrahlbegrenzer hilft weiter, das Risiko von Probenschäden durch Überbelichtung zu reduzieren.