Gebraucht JEOL JSM 6600FXV #9098215 zu verkaufen

JEOL JSM 6600FXV ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für die hochauflösende Bildgebung und Analyse von Materialien konzipiert ist. Es ist ein Top-of-the-Line-Werkzeug, optimiert für die Leistung in der Elektronenstrahl-Mikroskopie. Dieses Mikroskop arbeitet mit einer Feldemissionselektronenkanone mit integrierter konventioneller magnetischer Objektivlinsenausrüstung. Darüber hinaus verfügt JSM 6600FXV über ein Festkörper-EDX-Detektorsystem für die On-Axis Energy Dispersive Röntgenspektroskopie (EDX) und einen hochempfindlichen digitalen Signalprozessor zur Erfassung rauscharmer Bildgebung. Das SEM besteht aus einer Ultrahochvakuumumgebung mit einem steuerbaren Beschleunigungsspannungsbereich von 0,5 bis 30kV und einer hochempfindlichen hochauflösenden Anzeigeeinheit. Es verfügt über eine Probenkammer mit einer X-, Y-, Z-Probenantriebseinheit und einem Probenhalter für die Positionierung und Neigungsverstellung der Probe. Seine Probenhalter können Proben mit Abmessungen bis 220 x 200mm aufnehmen. Das Mikroskop verfügt auch über eine fortschrittliche Bildverarbeitungsmaschine, die Flexibilität für die Datenerfassung und -verarbeitung ermöglicht. JEOL JSM 6600FXV ist mit einer Fülle von analytischen Merkmalen ausgestattet, einschließlich eines elektronenstrahlinduzierten Stromwerkzeugs (EBIC), EDX-Fähigkeiten für die Elementaranalyse und einer chemischen Kartenfunktion, die zur Charakterisierung von Materialien auf der mikroskopischen Skala verwendet werden kann. Die EBIC-Anlage ermöglicht es Forschern, den lokalen elektrischen Typ und Strom in einem Exemplar zu erkennen und zu messen. EDX ermöglicht dem Anwender eine hochempfindliche chemische Analyse der Probenoberfläche und die chemische Kartenfunktion ermöglicht es dem Anwender, die räumliche Verteilung von Elementen innerhalb einer Probe zu analysieren. Die Möglichkeit, Proben unter verschiedenen Bedingungen vom Hochvakuum bis zum Hochdruckgas sowie im Scan-Modus für Flüssigzellen abzubilden, macht JSM 6600FXV zu einem vielseitigen Instrument. Darüber hinaus ermöglicht die fortschrittliche Elektronenkanone JEOL JSM 6600FXV den Betrieb unter analytischen Bedingungen, was bedeutet, dass die mit diesem Mikroskop erzeugten Ergebnisse und Bilder von höchster Qualität sind. JSM 6600FXV ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das für die hochauflösende Bildgebung und Analyse von Materialien optimiert ist. Es bietet eine Reihe von Funktionen wie Feldemissionselektronenkanone, EDX-Detektormodell, Bildverarbeitungsgeräte, EBIC-System und mehr, so dass es ein unschätzbares Werkzeug für die Materialcharakterisierung.