Gebraucht JEOL JSM 6610LA #293758763 zu verkaufen

JEOL JSM 6610LA Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein Hochleistungs-Analysewerkzeug für die wissenschaftliche Forschung in einer Reihe von Teildisziplinen von der Materialwissenschaft bis zu den Lebenswissenschaften. JSM 6610LA ist in der Lage, die Oberfläche von Proben bis zu 900.000 Mal zu vergrößern und Bilder auf verschiedene Weise zu erfassen. Es ist in der Lage, 3D-optische Tomogramme, Oberflächenfilme, Kathodolumineszenz, Sekundärelektron und rückgestreute Elektronenbilder zu produzieren. JEOL JSM 6610LA verfügt über eine Hochvakuum-Umgebung mit einer kleinen Kammer. Diese Umgebung sorgt dafür, dass der Elektronenstrahl ohne Kontamination tiefer in die Probe eindringen kann. Seine elektronendynamische Säule weist einen Elektronenemitter vom Typ Kaltkathode und eine elektrostatische Linseneinrichtung auf, die es ihr ermöglicht, eine hochauflösende Abbildung bei relativ niedrigem Strom durchzuführen. Es ist auch mit einem Energiefiltersystem ausgelegt, das es dem Benutzer ermöglicht, die Energie von Elektronen, die an die Probe übertragen werden, zu steuern. Dadurch wird sichergestellt, dass die Elektronen mit der Probe in der exakt vom Benutzer gewünschten Weise interagieren. Die große Kammer des Geräts ermöglicht es dem Anwender, Proben bis zu 120x120mm und 480x480mm abhängig vom Zustand der Probe zu messen. Es hat eine maximale Probengröße von 10x10mm, wodurch der Benutzer schnell große Proben scannen kann. JSM 6610LA verfügt auch über eine Vielzahl von benutzerfreundlichen Funktionen, wie ein Bildverarbeitungspaket, das es dem Benutzer ermöglicht, die aufgenommenen Bilder intuitiv zu manipulieren. Hinsichtlich der analytischen Fähigkeiten ist JEOL JSM 6610LA mit einer EDS-Maschine (Energy Dispersive Spectroscopy) ausgestattet, mit der Röntgensignale erfasst und Elemente in der Probe identifiziert werden können. Das Werkzeug produziert auch elementare Karten, die die Verteilung der Elemente in der Probe zeigen. Der EDS-Vermögenswert kann zur Messung der chemischen Zusammensetzung einer Probe sowie ihrer Massenzusammensetzung verwendet werden. JSM 6610LA enthält auch ein Laser Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) Modell, das verwendet wird, um die Oberfläche einer Probe zu analysieren. Die Geräte können verwendet werden, um das Vorhandensein von Atomen wie Wasserstoff, Sauerstoff und Stickstoff auf der Probe nachzuweisen. Das SIMS-System kann auch zur Messung der Konzentration der auf der Oberfläche und im Großteil der Probe vorhandenen Metallatome verwendet werden. Insgesamt ist JEOL JSM 6610LA ein anspruchsvolles Rasterelektronenmikroskop mit einer Reihe von Fähigkeiten. Es ist sehr vielseitig und bietet Benutzern eine Reihe von Funktionen. Es kann verwendet werden, um hochauflösende Bilder einer Probe zu erfassen oder ihre Oberflächen- und Massenzusammensetzung zu analysieren. Das Gerät ist zuverlässig, intuitiv und einfach zu bedienen.