Gebraucht JEOL JSM 6610LV #9410899 zu verkaufen

JEOL JSM 6610LV ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit erweiterten Fähigkeiten zur Bildgebung und Analyse. Das 6610LV ist ein Hochleistungs-SEM, das hochauflösende Bilder mit einer Auflösung von bis zu 1,3 Nanometern erzeugen kann. Es ist mit einer großen Kammer ausgestattet und eignet sich für die Analyse großer und dicker Proben mit einer maximalen Probengröße von bis zu 200mm Durchmesser. Das 6610LV bietet ein breites Spektrum an Funktionen wie hochpräzises Scannen, einen hohen Automatisierungsgrad, ein einfach zu bedienendes Betriebssystem und eine hohe Flexibilität. Das invertierte Design des SEM ermöglicht vergrößerte Arbeitsflächen, größere Probengröße und höhere Vakuumwerte im Vergleich zu anderen SEMs. Die 6610LV unterstützt auch eine breite Palette von Detektoren, nämlich Sekundärelektron (SE-1), Rückstreuelektron (BSE), Energiedispersive Spektroskopie (EDS) und andere. Das Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop JEOL JSM 6610 LV ist in der Lage, eine hochauflösende Bildgebung und Analyse zu erreichen. Es unterstützt überlegene Analyse- und Beobachtungsfunktionen und eignet sich für eine Vielzahl von Anwendern, die sowohl hochauflösende Bildgebungs- als auch Analysefunktionen benötigen. Mit seinem erweiterten Arbeitsbereich und seiner großen Kammergröße unterstützt JSM 6610LV eine breite Palette von Probengrößen und Anwendungen. Darüber hinaus ist das SEM hochautomatisiert und einfach zu bedienen. Als solches ist die 6610LV ein ideales Werkzeug, um sowohl bildgebende als auch analytische Materialforschung durchzuführen.