Gebraucht JEOL JSM 6700F #293600930 zu verkaufen

JEOL JSM 6700F ist ein Rasterelektronenmikroskop (Rasterelektronenmikroskop), das entworfen wurde, um detaillierte Bilder von der Oberfläche einer Probe zu liefern. Es verfügt über außergewöhnliche Auflösungsleistung, ein hohes Maß an Genauigkeit und die Fähigkeit, eine breite Palette von analytischen Techniken durchzuführen. Das Instrument verfügt über einen variablen Druckkammer, der arbeitet, um die Innenatmosphäre bei niedrigem Vakuum zu halten, so dass der Benutzer SE-Bildgebung und EDX-Analyse durchführen kann, die unabhängig von den leitenden Eigenschaften oder Merkmalen der Probe sind. Durch die Verwendung der Sekundärelektronen und rückgestreuten Elektronen, die durch einen einfallenden Elektronenstrahl auf einer Probe erzeugt werden, ermöglicht JEOL JSM 6700 F dem Benutzer eine hochauflösende Bildgebung und quantitative Mikroanalyse nichtleitender Proben. JSM 6700F ist mit einer Auto-Fokus-Funktion ausgestattet, die den Fokus der Probe anpasst, um optimale Abbildungsbedingungen zu bieten. Sein Geschütz- und Objektivobjektivdesign bietet eine hervorragende analytische Leistung, insbesondere in Kombination mit seinem erweiterten Energiebereich der energiedispersiven Röntgengeräte. Durch die Verwendung des energiedispersiven Röntgen- (EDX) Systems ist JSM 6700 F in der Lage, elementare Empfindlichkeit bis zu einigen hundert Teilen pro Million (p.p.m.) bereitzustellen. Das SEM verfügt über eine moderne Digitalkamera, die eine langsame und schnelle Bildaufnahme von Bewegungsmusterbildern verwendet und es ermöglicht, überlegene Auflösungsbilder bereitzustellen und klare und scharfe Details der Mikrostruktur der Probe anzuzeigen. Die Länge der Aufnahmezeit kann eingestellt werden, was eine Abbildung von Proben mit dynamischen Merkmalen oder solchen ermöglicht, die längere Zeiträume benötigen, bis sie einen stationären Zustand erreichen. Die benutzerfreundliche Software von JEOL JSM 6700F erleichtert die komfortable Bedienung des Instruments. Es enthält eine Zeichnungseinheit zur Rekonstruktion der dreidimensionalen Form der gescannten Proben, eine Bibliotheksmaschine für Bildmanagement und Multi-Element Analysis Applications Software für quantitative Analyse. JEOL JSM 6700 F ist ein unschätzbares Werkzeug für Ingenieure und Wissenschaftler, die Probenmaterialien erforschen und analysieren. Durch die Bereitstellung eines detaillierten und genauen Bildes der Mikrostruktur der Probe ermöglicht das Instrument den Anwendern genaue Beobachtungen zu machen und Einblick in das Probenmaterial zu gewinnen, was es zu einem wertvollen Werkzeug für die Untersuchung von Oberflächeneigenschaften, Materialwissenschaften und Nanotechnologie-Anwendungen macht.