Gebraucht JEOL JSM 6700F #293608930 zu verkaufen

JEOL JSM 6700F ist ein Feldemissionsrasterelektronenmikroskop (FESEM), das dank seines monochromierten elektronenoptischen Systems außergewöhnliche Bildgebungsfähigkeiten bietet. Es ist in der Lage, hochauflösende Bilder mit spektakulärer Schärfentiefe zu erhalten. Mit der hochwertigen Optik und der fortschrittlichen Signalverarbeitung erreicht JEOL JSM 6700 F im Betriebsmodus eine hervorragende räumliche Auflösung von bis zu 50 nm, obwohl seine Beschleunigungsspannung gerade einmal 1,2 kV beträgt. JSM 6700F verwendet rückgestreute Elektronen (BSE), um Bilder von Proben mit einem markanten Detailgrad zu erfassen. Die Proben können unter den verschiedensten Bedingungen und Aufbereitungstechniken, wie Trockenproben oder Flüssigkeitszellen, beobachtet werden. JSM 6700 F hat einen dynamischen Bereich von mehr als fünf Größenordnungen und ist in der Lage, auch die schwachen Kontraste zwischen verschiedenen Punkten der Probe zu erkennen. Dies ermöglicht ein hohes Maß an Details in den Beobachtungen, was Beweise für morphologische und/oder kompositorische Variation aufzeigt. JEOL JSM 6700F verfügt auch über ein fortschrittliches 4-Achsen-Goniometer, das eine hochpräzise Probenmanipulation ermöglicht. Auf diese Weise können Proben detailliert analysiert werden, insbesondere solche mit einer sehr kleinen Größe. Die Proben können auch in situ analysiert werden. JEOL JSM 6700 F verfügt über eine einzigartige Kombination von Funktionen, wie Vakuumstufen, die der In-situ-Beobachtung gewidmet sind und eine Analyse bei verschiedenen kontrollierten Temperaturen und Drücken ermöglichen. Dies macht das Instrument nützlich für Experimente wie In-situ-Tribologie, elektrochemische Experimente oder andere, die sich Temperatur- oder Druckänderungen unterziehen. Dank der niedrigen Beschleunigungsspannung und der variablen Druckumgebung eignet sich JSM 6700F besonders für die Untersuchung elektronenbestrahlungsempfindlicher Proben wie organischer Materialien. JSM 6700 F ist mit einem Browser-Modus ausgestattet, der das beobachtete Bild auf einem Bildschirm mit einer grafischen Benutzeroberfläche darstellt. Dieses Display zeigt eine Winkelansicht der Beobachtung anstelle der Standard-Linearansicht, die eine bessere Darstellung der Probe ermöglicht. JEOL JSM 6700F verfügt über eine hoch automatisierte Operation, so dass es einfach zu bedienen, auch für Anfänger. Sowohl die Bilderfassung als auch die analytischen Prozesse können automatisiert werden, um Zeit zu sparen, sodass Benutzer Sequenzen und Parameter bearbeiten können, ohne den gesamten Bildgebungsprozess erneut durchlaufen zu müssen. Abschließend ist JEOL JSM 6700 F ein fortschrittliches und anspruchsvolles Rasterelektronenmikroskop, das mikroskopische Bildgebungsfähigkeiten auf einem beispiellosen Detailniveau bietet, ideal für die Untersuchung von Materialien, sowohl in situ als auch ex situ.