Gebraucht JEOL JSM 6700F #293636522 zu verkaufen
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ID: 293636522
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Control table
Manual.
JEOL JSM 6700F ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das entwickelt wurde, um eine qualitativ hochwertige Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Probentypen bereitzustellen. Dieses SEM bietet eine hervorragende Auflösung und hohe Schärfentiefe, die Vergrößerungen bis zu 60.000x und eine beeindruckende Schärfentiefe von mindestens 20µm ermöglicht. JEOL JSM 6700 F ist mit einem Spannungsbereich von 200-30kV und einer Spotgröße ausgestattet, die von 1-7mm eingestellt werden kann. Darüber hinaus verfügt dieses Modell von SEM über einen hohen Arbeitszyklus der aktiven Strahllaufzeit, die eine ununterbrochene Abbildung großer Proben über längere Zeiträume ermöglicht. JSM 6700F verfügt über einen erweiterten rückgestreuten Scan-Modus, der reduzierte Artefakte im Bildgebungsprozess ermöglicht. Dieser Mechanismus arbeitet nach dem gleichen Prinzip wie der Rasterprozess eines Scanners und ermöglicht mehrere Punktquellen pro horizontaler Linie, wodurch eine überlegene Auflösung gegenüber Rastertechniken erreicht wird. Dieses Modell von SEM verfügt auch über eine integrierte digitale Signalverarbeitung, die eine verbesserte Signal-Rauschempfindlichkeit ermöglicht und gleichzeitig Artefakte in den Beispielbildern reduziert. JSM 6700 F kann auch auf einen EDS Microchamber aufgerüstet werden, der eine einfache und zuverlässige automatisierte Spektrumsammlung und -analyse bietet. Die Benutzeroberfläche von JEOL JSM 6700F ist intuitiv und einfach zu bedienen und ermöglicht es dem Benutzer, Bilder schnell einzurichten und zu erfassen. Dieses Modell von SEM ist auch mit einer Vakuumkammer ausgestattet, die eine Analyse von luftempfindlichen Proben ermöglicht, ohne die Bildqualität und Auflösung zu beeinträchtigen. Insgesamt bietet JEOL JSM 6700 F eine überlegene Auflösung und Tiefenschärfe sowie eine Reihe von Funktionen, die es ermöglichen, eine qualitativ hochwertige Bildgebung und Analyse durchzuführen. Dieses Modell von SEM ist in der Lage, unter verschiedenen Bedingungen zu arbeiten, was es zu einer idealen Wahl für Forscher in den Bereichen Biologie, Materialwissenschaft und Ingenieurswesen macht.
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