Gebraucht JEOL JSM 6700F #293652431 zu verkaufen

JEOL JSM 6700F ist ein Rasterelektronenmikroskop (Rasterelektronenmikroskop), das entworfen wurde, um hochauflösende Bilder der Oberflächenstruktur einer Probe zu erzeugen. Es ist in der Lage, hochwertige digitale Bilder zu produzieren, die für detaillierte Analysen oder für Bildungszwecke verwendet werden können. JEOL JSM 6700 F verwendet einen fokussierten Elektronenstrahl, um die Probenoberfläche abzutasten, um sekundäre Elektronenbilder und rückgestreute Elektronenbilder zu erzeugen. Der Primärelektronenstrahl wird mit einer Elektronenkanone erzeugt, die eine feine Elektronenemission aus einem Wolframfaden erzeugt. Dieser Strahl wird dann in Abhängigkeit von der gewünschten Auflösung innerhalb eines elektrischen Feldes beschleunigt. Der Strahl wird dann mittels eines elektrostatischen Linsensystems fokussiert, was eine Submikron-Auflösung ermöglicht. JSM 6700F verfügt über eine Reihe von Funktionen, um seine Leistungs- und Analysefunktionen zu verbessern. Es ist mit dynamischer Fokussierung und Stigmation für optimierte Bildgebung ausgestattet. Es verfügt außerdem über ein Sondenstromsteuerungssystem zur Aufrechterhaltung der Bildstabilität, Anzeigeoptionen für bis zu drei verschiedene Signale gleichzeitig, digitale Bildverarbeitung und eine Nachsputtereinheit für die energiedispersive Spektroskopie. JSM 6700 F bietet auch benutzerfreundliche Bedienung. Neben herkömmlichen Parametern umfasst das Instrument Funktionen wie Auto-Mapping und voreingestellte Modi. Der Anwender kann auch die Auswahl an Analysewerkzeugen wie Härtemarking, Phasenerkennung und dispersive Kontrastabbildung nutzen. Die vergrößerten Bilder werden je nach benutzerdefiniertem Modus einfarbig oder farbig erzeugt. Die Bilder können als hoch- oder niedrigauflösende Dateien exportiert und mit anderen Benutzern geteilt werden. JEOL JSM 6700F ist mit seiner hervorragenden Leistung und seinem umfassenden Leistungsspektrum eine ausgezeichnete Wahl für analytische und pädagogische Bedürfnisse.