Gebraucht JEOL JSM 6700F #293655231 zu verkaufen

JEOL JSM 6700F Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein Hochleistungsinstrument zur Beobachtung und Analyse unterschiedlichster Proben. Es bietet überlegene Bildqualität und Auflösung aufgrund seiner feinen Sondengröße und langen Arbeitsstrecke. Das 6700F verfügt über eine Kaltfeld-Emissionskanone (CFE-Pistole), um hochwertige Bilder mit überlegener Schärfentiefe und ausgezeichneter Auflösung mit Vergrößerungen bis zu 300.000x zu erzeugen. Die CFE-Pistole erzeugt niedrige Elektronenströme und ermöglicht den Betrieb bei niedrigen Spannungen, was den Arbeitsabstand des Instruments erhöht, der bis zu 100 mm erreichen kann. Die 6700F hat auch eine große Festkörper-Bildfläche von 25mm x 25mm und ist in der Lage, verschiedene Arten von Kontrast einschließlich Backscatter Electron Detector (BED) und In-Linse (IL) Bildgebung zu produzieren. Zusätzlich kann die 6700F mit einem optionalen Zweitstufendetektor ausgestattet werden, der sowohl für die Sekundärelektronenbildgebung in reflektierten als auch in transmittierten Modi sorgen kann. Die 59mm Probenkammer kann Proben mit Größen bis zu 55mm Durchmesser aufnehmen. Die Probenkammer verfügt außerdem über eine automatisierte Steuerung und einen Probenaustausch mit optionalem Zubehör wie Lastschloß, Kryokühlstufe und Kühlstufe. Darüber hinaus verfügt das 6700F über eine hervorragende analytische Leistung mit einem optionalen EDS-System, das speziell für das Kit entwickelt wurde. Das EDS-System kann elementare Materialanalysen liefern und dient zur Messung von Lichtelementen wie Kohlenstoff, Sauerstoff und Schwefel. JEOL 6700F ist auch ein automatisiertes SEM, ausgestattet mit Scanning Probe Image and Analysis (SPIA) und Advanced Scanning Auger Microscopy (SAM) Fähigkeiten. SPIA bietet 3D-Bildgebung für nanoskalige Charakterisierung durch die Kombination von Linienabtast- und Bildgebungsmodi für größere Bereiche, während SAM die Analyse von Spurenelementen mit einer Auflösung von 0,1 nm ermöglicht. Das 6700F ist auch ein Röntgenphotonenspektroskopie (XPS) Mikroskop, das die Sammlung von hochauflösenden Röntgenspektren von Oberflächen ermöglicht. Die spektroskopischen Dateien können zur Analyse der elementaren Zusammensetzung und der Bindungszustände der Probenoberfläche verwendet werden. Insgesamt ist JEOL JSM 6700 F ein vielseitiges Instrument zur Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Proben. Seine Kaltfeld-Emissionskanone, 3D-Bildgebungsfunktionen, automatisierte Probenkammersteuerung und XPS-Fähigkeiten machen es ideal für Forscher unterschiedlichster Disziplinen.