Gebraucht JEOL JSM 6700F #293672256 zu verkaufen

JEOL JSM 6700F Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein modernes Gerät, das Anwendern ein leistungsfähiges und präzises Werkzeug zur Charakterisierung der Struktur und Zusammensetzung von Materialien auf Nanoskala-Ebene bietet. JEOL JSM 6700 F umfasst eine Reihe von Funktionen und Komponenten, um ein Höchstmaß an Qualität der Bildgebung und Analyse zu gewährleisten. JSM 6700F Geräte sind auf einem vollautomatisierten System mit einer Reihe von digitalen Automatisierungsfunktionen aufgebaut. Intelligente SEM-Funktionen ermöglichen eine schnelle und genaue Bedienung auch in den anspruchsvollsten Anwendungen. Das Mikroskop verfügt über eine Hochdurchsatz-Scan-Steuereinheit sowie eine integrierte Thermal-Flow-Control-Maschine und einen fortschrittlichen On-Column-Autofokus-Mechanismus. Diese Funktionen kombinieren eine automatisierte und präzise Bildgebungs- und Analysefähigkeit zu schaffen. Das Mikroskop verfügt über eine Feldemissionskanone (FEG), die hochauflösende Bilder erzeugen kann. Diese Pistole hat einen niedrigen Spreizwinkel, lange Brennweite, geringe Divergenz und einen weiten Vergrößerungsbereich. JSM 6700 F kommt auch mit einer variablen Druckstufe (VPS). Diese Stufe kann auf verschiedene Bereiche des atmosphärischen Drucks eingestellt werden, so dass Proben auf verschiedenen Detailebenen analysiert werden können. Das Mikroskop ist mit einem hochauflösenden Sekundärelektronendetektor und einem Hellfelddetektor ausgestattet. Diese Detektoren können für eine Reihe von Bildgebungs-, Analyse- und Messoperationen verwendet werden, wie z.B. die Identifizierung von Bereichen mit hohem Kontrast, die Erkennung von Oberflächenmerkmalen oder Rissen und das Aufzeichnen von Linienscans. JEOL JSM 6700F kommt auch mit einer Reihe von Software-Tools für Datenanalyse und Darstellung. Diese Tools ermöglichen es Benutzern, Daten aus einer Reihe von Probentypen zu sammeln, zu plotten und zu analysieren. Dazu gehören Bildtransmutation, Bildfusion und die Möglichkeit, dreidimensionale Darstellungen aus Bildern zu erstellen. Darüber hinaus enthält JEOL JSM 6700 F eine Reihe von Optionen, die die Fähigkeiten des Mikroskops weiter verbessern können. Dazu gehören ein Feldemissionsdetektor, eine Sauerstoffzelle und ein Säulenheizer sowie eine Reihe von Probenvorbereitungszubehör. Diese Extras helfen, die Genauigkeit und Auflösung der bildgebenden und analytischen Operationen des Mikroskops zu verbessern. Insgesamt ist JSM 6700F Scanning Electron Microscope ein leistungsfähiges und vielseitiges Werkzeug für nanoskalige Forschung und Analyse. Es ist eine ideale Wahl für diejenigen, die außergewöhnliche Ebenen der Bildgebungs- und Analyseleistung erreichen möchten.