Gebraucht JEOL JSM 6700F #293685416 zu verkaufen
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JEOL JSM 6700F Rasterelektronenmikroskop ist ein vielseitiges, leistungsfähiges Rasterelektronenmikroskop. Sein fortschrittliches Design ermöglicht es, eine hohe dimensionale Auflösung und kontrastreiche Bildgebung einer breiten Palette von Proben bereitzustellen. Seine Feldemissionskanone (FEG) -Elektronenquelle hat ausgezeichnete Eigenschaften und liefert Abblendstrom, Abblendlichtdivergenz und hohe Helligkeit. Dadurch ist es ideal für eine Vielzahl von bildgebenden Anwendungen. JEOL JSM 6700 F bietet einen Vergrößerungsbereich von 20x bis 200.000x im 3kV Bereich und 10x bis 100.000x im 0.5kV Bereich. Der Elektronenstrom variiert von 0,5 nA bis 100 nA. Für die Bildgebung ist es mit einer digitalen und analogen Schnittstelle für maximalen Nutzen ausgestattet. Die zwei getrennten Digitalkameras, ein tiefer Erschöpfungstyp (1K x 1K) langsamer Scan und ein hochauflösender (2K x 2K) schneller Scan-CCD ermöglichen eine sehr hochauflösende Bildgebung. Die integrierte Bildaufnahme- und -verwaltungssoftware ermöglicht eine einfache Bildverarbeitung und Dateispeicherung. JSM 6700F ist in der Lage, eine Reihe von Proben-Wechselwirkungen wie sekundäre Elektronen (SE) Bildgebung, rückgestreute Elektronen (BSE) Bildgebung und Energie dispersive Röntgenspektroskopie (EDS) durchzuführen. Dies ermöglicht die Analyse einer Probe sowohl durch ihre elementare Zusammensetzung als auch durch morphologische Merkmale. Die EDS-Analyse erfolgt entweder mit einem SDD-Detektor oder je nach Anwendung mit einem X-MAX-Röntgenspektrometer. JSM 6700 F bietet auch eine Vielzahl von Vakuumzuständen, um eine Reihe von Proben unterzubringen. Es kann im konventionellen Vakuum-Modus (1 x 10-5 Torr) oder im Hochvakuum-Modus (5 x 10-7 Torr) betrieben werden und kann in Kombination mit der flüssigen Stickstoffkühlung verwendet werden, um Proben einzufrieren und die Kryo-Elektronenmikroskopie zu ermöglichen. JEOL JSM 6700F bietet auch eine Reihe von eingebauten Optionen, um das Mikroskop für bestimmte Anwendungen anzupassen. Darüber hinaus kann das Mikroskop in eine automatisierte Großprobenumgebung zur echten In-situ-Bildgebung und Datenerfassung integriert werden. Insgesamt bietet JEOL JSM 6700 F ein hohes Leistungsniveau für eine Vielzahl von Anwendungen, und seine integrierten Optionen und automatisierten Fähigkeiten machen es zu einer geeigneten Wahl für Labor- und Hochdurchsatz-Bildgebungszwecke.
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