Gebraucht JEOL JSM 6700F #293754691 zu verkaufen

JEOL JSM 6700F ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das Sekundärelektronen (SE) verwendet, um hochauflösende Bilder zu erzeugen. Das SEM ist mit einem ETL-variablen Druck SEM (VP-SEM) -Merkmal ausgestattet, das zu einem reduzierten Druck der Elektronenemission führt und eine erhöhte Probentiefe und Auflösung ermöglicht. Mit einem variablen Druck von 0,1 Pa bis 10 Pa können Proben in verschiedenen Umgebungsbedingungen untersucht werden. JEOL JSM 6700 F hat eine Beschleunigungsspannung von 0,1 bis 30 kV, was zu einem hohen Dynamikbereich für maximale Kontrastabbildung führt. Dieses SEM bietet eine Hochleistungs-Umgebungskammer mit einem Temperaturbereich von bis zu 0 C bis 135 C und einem Vakuum von bis zu 10-3 Pa.Zusätzlich verfügt dieses Modell über einen hochempfindlichen rückgestreuten Elektronendetektor (BSE) und ein EDX-System, das die elementare Zusammensetzungsanalyse der Probe mit hoher Genauigkeit ermöglicht. JSM 6700F ist in der Lage, digitale Daten zu sammeln, die verwendet werden, um 3D-Bilder durch Elektronentomographie zu erstellen. Dieses SEM produziert auch Sekundärelektronen (SEs) sowie Hin- und Herscannen-Fähigkeiten. Die SEs stellen ein Bild mit hohem Kontrast dar, während das Hin- und Herscannen es ermöglicht, das Objekt wiederholt zu scannen. Die leistungsstarke Feldemissionsquelle liefert eine hervorragende hochauflösende Bildgebung mit hoher Empfindlichkeit gegenüber kleinen Merkmalen und Topographie an der Probe. JSM 6700 F ist mit einer großen Arbeitsabstandsoption ausgestattet, die die Betrachtung der gesamten Wulstoberfläche gleichzeitig ermöglicht. Darüber hinaus verfügt dieses SEM über die einzigartige Fähigkeit, mehrere Bilder auf einer einzigen Fokusebene zu erzeugen und Analyse und Bildgebung miteinander zu kombinieren. Diese Eigenschaften sowie die hochempfindlichen Detektoren machen JEOL JSM 6700F zu einer idealen Wahl für eine Vielzahl von Anwendungen, insbesondere für hochauflösende Bildgebung, ultraauflösende Bildgebung, Umgebungsscanning und EDX. Kurz gesagt, JEOL JSM 6700 F ist eine ausgezeichnete SEM-Wahl für eine Vielzahl von industriellen, biomedizinischen und akademischen Forschungszwecken.