Gebraucht JEOL JSM 6700F #293775754 zu verkaufen

JEOL JSM 6700F ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit einer Feldemissionskanone (FEG), die die Beobachtung von Proben bis zur Nanometerskala ermöglicht. Die Elektronenquelle in diesem SEM ist ein FEG, das stabilere, höhere Strom- und höhere Auflösung als thermionische Emitter liefert, was zu einer verbesserten Bildauflösung führt. Dieses SEM ist für die Bildgebung, Elementaranalyse und den automatisierten Betrieb ausgelegt. JEOL JSM 6700 F hat einen Betriebsspannungsbereich von 30 bis 30kV und ein hochzuverlässiges flüssiges Stickstoffkühlsystem. Das System arbeitet in variablen Druck- (VP) oder variablen Vakuum (VV) -Modi. Die untere Erkennungsgrenze von 1.2nm ist im VP-Modus möglich, während sie im VV-Modus bis zu 2.1nm niedrig sein kann. Der Vergrößerungsbereich von JSM 6700F beträgt 10x bis 500kX. Das maximale Sichtfeld ist 400mm, und die maximale Auflösung ist 1,2 nm bei 15kV im VP-Modus. Für den automatisierten Betrieb ist der JSM 6700 F mit einem automatischen Probenwechsler (ASC) ausgestattet. Dieses ASC ermöglicht eine schnelle Änderung des Probenaufbaus, was den Probendurchsatz und die Genauigkeit der Analyse erheblich erhöht. JEOL JSM 6700F kann auch von einem externen Rechner aus gesteuert werden, wodurch die potentielle Datenerfassungsgeschwindigkeit weiter erhöht wird. JEOL JSM 6700 F kann für eine Vielzahl von Anwendungen verwendet werden, einschließlich Hochvergrößerungsbildgebung, Elementaranalyse, EBSD (electron back scatter diffraction) und automatisierte Probenanalyse. Es verfügt über einen Sekundärelektronendetektor (SE) für die Standardabbildung, einen rückgestreuten Elektronendetektor (BSE) für die Analyse nichtleitender Materialien, einen Energy Dispersive X-Ray (EDX) -Detektor für die Elementaranalyse und einen großen Tiefenschärfendetektor für ein dreidimensionales Bild bild. Neben seinen bildgebenden Fähigkeiten ist JSM 6700F auch in der Lage, Röntgenmikroanalysen durchzuführen. Der EDX-Detektor ermöglicht elementare Analysen von Materialien auf der Nanometerskala und liefert Ergebnisse, die auf besser als 1% genau sind. JSM 6700 F ist gut geeignet für Forschungsanwendungen, F&E, Qualitätssicherung und Fehleranalyse. Die Abtastfunktionen und die integrierte Automatisierung dieses SEM ermöglichen eine schnelle und einfache Analyse und Datenerfassung.