Gebraucht JEOL JSM 6700F #293813761 zu verkaufen

JEOL JSM 6700 ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für eine Vielzahl von Anwendungen in Bereichen wie Materialwissenschaft, Physik, Chemie und Biologie entwickelt wurde. Es ist mit einer hochauflösenden Feldemissionskanone ausgestattet, um klare Bildgebung und genaue Daten bereitzustellen. Darüber hinaus verfügt es über eine breite Palette von Sekundärelektronen- und Rückstreuelektronendetektionen, gekoppelt mit Dual-SE-Detektoren und einem programmierbaren AES-Analysator. Es bietet eine breite Palette von Betriebsmodi sowie ausgezeichnete Bildqualität in Nieder- und Hochspannungsabtastmodi. JSM 6700 verfügt über eine Bühne mit einer maximalen Probengröße von 150 mm Durchmesser und einem Neigungsbereich von bis zu 60 Grad. Es verwendet eine Strahlspannung von 0,1-30 kV und einen Strahlstrombereich von 0,5-20 nA. Sein maximaler Vergrößerungsbereich beträgt 6x-1000 000x. Das Mikroskop hat einen effektiven Arbeitsabstand von 10 mm und die Bühne läuft auf einem vollständig geschlossenen, 3-achsigen Wegsystem, das die Probe in x-, y- und z-Richtung übersetzt. JEOL JSM 6700 bietet eine breite Palette von analytischen Fähigkeiten, die Energy Dispersive Röntgenspektroskopie (EDS) und Electron Backscatter Diffraction (EBSD) verwenden. Es kann Kristallstrukturen sondieren und Scans im SEM-Modus durchführen, bei denen Bilder aus der Wechselwirkung von Elektronen mit der Probe gewonnen werden. Die EDS-Funktion ermöglicht die Identifizierung und Analyse der elementaren Zusammensetzung von Materialien und im EBSD-Modus kann das Mikroskop zur Orientierungsmapping verwendet werden. JSM 6700 ist auch mit einer Reihe von Zubehör ausgestattet, um seine Fähigkeiten zu verbessern, wie ein automatisierter Probenaustauscher, ein Vakuumsystem, ein Probenhalter und eine Ablenk-/Rotatorpistole. Es ist auch kompatibel mit einer breiten Palette von Software zur Steuerung des Mikroskops und Unterstützung bei der Entwicklung von Ergebnissen, wie JEOL Easy-SEM Image Acquisition Software. Insgesamt ist JEOL JSM 6700 ein fortschrittliches SEM, das Forscher bei ihrer Analyse unterstützt, ideal für Materialien, Chemie, Physik und biologiebezogene Studien. Seine hochauflösende Bildgebung, kombiniert mit der Vielzahl an Funktionen und Funktionen, macht es zu einem unglaublich vielseitigen Mikroskopie-Tool für Forscher in verschiedenen Disziplinen.