Gebraucht JEOL JSM 6700F #46262 zu verkaufen

JEOL JSM 6700F ist ein vielseitiges Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit einer breiten Palette von Fähigkeiten. Das SEM wurde entwickelt, um die höchstauflösenden Bildgebungs- und Analysefunktionen bereitzustellen und nutzt eine Kombination aus mehreren Technologien, um seine beeindruckende Leistung zu erzielen. JEOL JSM 6700 F ist mit einer Feldemissionskanone (FEG) Elektronenquelle ausgestattet, die eine überlegene Helligkeit und Auflösung gegenüber herkömmlichen thermionischen Elektronenquellen bietet. Diese Funktion ermöglicht die Möglichkeit, Bildgebung und Elementaranalyse mit höherer Auflösung an einer breiteren Vielfalt von Proben durchzuführen. Die Ausstattung ist zudem mit einer verstellbaren, dreidimensionalen Bühne für mehr Flexibilität ausgestattet. Diese Stufe ermöglicht präzise Probenmanipulation und Bildgebung sowie Vermessungs- und Punkt- und Klickautomatisierungsfunktionen. Das Mikroskop ist außerdem mit einem elektronenreflektierten Bilddetektor (REPIM) ausgestattet, der zur Detektion von von der Probe reflektierten hochenergetischen Elektronen ausgelegt ist. Diese Funktion ermöglicht die Abbildung eines breiteren Spektrums von Morphologien und gibt kontrastreiche Bilder mit höheren Auflösungen als mit anderen Detektoren erreichbar. Der REPIM-Detektor ermöglicht auch eine schnelle, einfache und genaue Elementaranalyse einer Probe, indem ein ausreichend definiertes Elementprofil bereitgestellt wird. Das System ist auch mit einem digitalen Pulsprozessor (DPP) ausgestattet, der empfindliche Elektronen detektieren und verarbeiten kann und eine schnelle, zuverlässige, genaue zeitkorrelierte Abbildung für die dynamische Probenanalyse ermöglicht. Das DPP ist auch in der Lage, empfindliche Elektronen zu detektieren und eine stabile Analyse für den kontinuierlichen Betrieb bereitzustellen. Andere Eigenschaften der Einheit schließen einen eingebauten Computer mit der Hochgeschwindigkeitsnetzkonnektivität, ein Echtzeitparameterdisplay, Bild surrend und mehr ein. Diese Funktionen kommen zusammen, um JSM 6700F leistungsfähige und zuverlässige Leistung zu geben. JSM 6700 F ist ein leistungsstarkes und zuverlässiges Rasterelektronenmikroskop, das eine hochauflösende Bildgebung und Elementaranalyse verschiedener Proben ermöglicht. Die Maschine ist mit einer Vielzahl von Funktionen ausgestattet, die sie zu einer idealen Wahl für Forschung und industrielle Anwendungen machen. Die Kombination aus FEG-, REPIM- und DPP-Technologien sowie die benutzerfreundliche Steuerung ermöglichen eine umfassende Probenanalyse und machen sie zu einem vielseitigen und zuverlässigen Werkzeug für Wissenschaftler und Ingenieure.