Gebraucht JEOL JSM 6700F #9146244 zu verkaufen

JEOL JSM 6700F ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit einzigartigen Fähigkeiten für detaillierte nanoskalige Bildgebung bei hoher Geschwindigkeit. Dieses Instrument kann sowohl im Sekundärelektronen- (SE) als auch im BSE-Modus arbeiten und bietet eine außergewöhnliche Bildauflösung bis auf 1 nm. Es ist mit einem ultradünnen Silikonfilmdetektor ausgestattet, der eine Echtzeit-Bildgebung sowie eine schnelle digitale Signalverarbeitung ermöglicht. Darüber hinaus kann JEOL JSM 6700 F mit zusätzlicher Hardware und Software wie einem energiedispersiven Spektrometer (EDS) für die Elementaranalyse integriert werden. JSM 6700F verwendet ein Accel-Decel-Linsensystem für die SE- und BSE-Bildgebung und bietet extrem hochauflösende Bildgebung mit geringem Rauschen. Dadurch entstehen Bilder frei von den Artefakten und Verzerrungen, die für die regelmäßige Rasterelektronenmikroskopie charakteristisch sind. Darüber hinaus ist das Instrument in der Lage, mehrere Strahlen gleichzeitig zu betreiben, was eine verbesserte Abbildungsgeschwindigkeit ermöglicht. Im Vergleich zu normalen SEMs bietet JSM 6700 F überlegene Vakuumanforderungen sowie verbesserte Betriebsstabilität und Lebensdauer. Dies ermöglicht eine langfristige Bildgebung sowie eine höhere Wirksamkeit bei der schnellen Erzielung gewünschter Abbildungsbedingungen. JEOL JSM 6700F SEM ist aufgrund des asynchronen Bildgebungsmodus auch in der Lage, 3D-Bilder sowohl im SE- als auch im BSE-Modus abzubilden. Der asynchrone Modus besteht aus einem schnellen Impulszyklus, in dem mehrere Bilder aufgenommen werden, wodurch 3D-Bilder erzeugt werden können. JEOL JSM 6700 F ist ideal für den Einsatz in der wissenschaftlichen Forschung und in industriellen Anwendungen, da es extrem hohe Auflösungsfähigkeiten bei Geschwindigkeit bietet. Die Vielseitigkeit und Flexibilität des Instruments, kombiniert mit seinen hochauflösenden bildgebenden Fähigkeiten, machen es zu einer idealen Wahl für Forscher, die nach außergewöhnlicher bildgebender Qualität und Genauigkeit suchen.