Gebraucht JEOL JSM 6700F #9226660 zu verkaufen

JEOL JSM 6700F ist eine Art Rasterelektronenmikroskop (SEM), das von JEOL Ltd., einem internationalen Marktführer für analytische Instrumente und elektronenoptische Technologie, entworfen und hergestellt wurde. Es ist ein hochauflösendes SEM, das speziell für die Abbildung mit einem Elektronenstrahl im Nanometermaßstab entwickelt wurde. JEOL JSM 6700 F ist mit einer zweipoligen Magnetfeld-Emissionskanone ausgestattet, die eine Elektronenquelle mit hoher Helligkeit ermöglicht, um ultimative Leistung und Auflösung zu bieten. Die beschleunigende Hochspannungsstromspannungsreihe ist von 0.1 kV bis 30 kV, eine breite Reihe der Spektrumswellenlängenvereinbarkeit und Betriebstemperaturen im Intervall von-20 Grad Celsius zu +5 Grad Celsius bietend, es passend für den Gebrauch in einer breiten Reihe von Anwendungen machend. JSM 6700F ist mit einer CFE-Elektronenquelle (Cold-Field Emission) ausgestattet, die maximale Helligkeit und Stabilität bei Niederspannung bietet. Es verfügt auch über eine hochauflösende Feldemissionskanone (FEG) mit einem 0,14 Nanometer Punktdurchmesser, der die Abbildung kleiner Proben, wie molekulare Strukturen, ermöglicht. Dieses Mikroskop ist in der Lage, hochauflösende Bilder bei hohen Vergrößerungen, Hochgeschwindigkeitsabtastung und rauscharmer Leistung zu erzeugen. Erweiterte Bildgebungsfunktionen, einschließlich automatischer Fokus- und Neigungskorrektur, hochpräziser Auto-Stigmen und automatisierter Bildnähte, sorgen dafür, dass auch komplexe Proben mit hoher Genauigkeit abgebildet werden können und detaillierte 3D-Ansichten bieten. JSM 6700 F ist auch kompatibel mit einer Reihe von Detektoren, einschließlich MINT und Kathodolumineszenzdetektoren, sowie einem energiedispersiven Röntgendetektor. Um Flexibilität und Vielseitigkeit zu gewährleisten, kann das Mikroskop auch mit einer angeschlossenen Umweltkammer für die Abbildung von Proben bei Temperaturen von -100 ° Celsius bis + 100 ° Celsius ausgestattet werden. Darüber hinaus verfügt JEOL JSM 6700F über integrierte digitale Bildgebungsfunktionen, mit denen der Benutzer Bilder einfach aufzeichnen, speichern und analysieren kann. JEOL JSM 6700 F ist ein ideales Rasterelektronenmikroskop mit den Eigenschaften, Fähigkeiten und Leistung, die für die Abbildung einer Vielzahl von Proben auf der Nanoskala erforderlich sind. Mit seinen fortschrittlichen bildgebenden Funktionen und Flexibilität ist JSM 6700F eine ideale bildgebende Lösung für Forscher und Analyselabore in vielen Branchen.