Gebraucht JEOL JSM 6700F #9233189 zu verkaufen

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ID: 9233189
Weinlese: 2006
Scanning Electron Microscope (SEM) Resolution: 1 nm at 15 kV 2.2 nm at 1 kV Magnification: 25x - 650,000x Sample size: 40 mm (D) x 20 mm (H) Movement range: X: 70 mm Y: 50 mm Z: 1.5-25 mm Tilt: -5°-60° Rotation: 0°-360° Voltage: 0.5 kV - 30 kV (in 0.1 kV Step) OXFORD 7421 Energy Dispersive Spectrometer (EDS) Si-Li Detector Window: 10 mm² ULVAC G-100DC Vacuum pump 120 ml/min PHOENIXTEC C-6000 UPS, 6 kVA EYELA CA-1111 Circulating chiller Range: -20°C to 30°C Watt: 1200 W (1030 kcal/h) HP / HEWLETT-PACKARD XW4300 Computer Intel Pentium 4: 3.0 GHz RAM: 512 MB Hard Disk Drive (HDD): 500 GB Operating system: Windows XP HP / HEWLETT-PACKARD DC 7100 Computer Intel Pentium 4: 3.0 GHz RAM: 512 MB Hard Disk Drive (HDD): 500 GB Operating system: Windows XP HP / HEWLETT-PACKARD L1910 LCD Monitor, 19" HP / HEWLETT-PACKARD LE1911 LCD Monitor, 19" 2006 vintage.
JEOL JSM 6700F Scanning Electron Microscope (SEM) vereint hervorragende bildgebende und analytische Fähigkeiten in einem einzigen Instrument. Es ist in der Lage, qualitativ hochwertige Bilder bei großen Vergrößerungen zur Verfügung zu stellen. Das System ist mit einer Kaltfeld-Emissionskanone (FEG) ausgestattet, die die neueste Technologie im Elektronenkanonen-Design ist. Dieser FEG bietet einen hellen hochauflösenden Elektronenstrahl und ermöglicht den Einsatz von Elektronenenergien von 1kV bis 30kV, wodurch er für eine Vielzahl von Materialien geeignet ist. Es bietet auch hochauflösende Bildgebung mit seiner Scanauflösung von 0.5nm. JEOL JSM 6700 F verfügt über eine große Kammer mit einer Arbeitsstufe, die Proben mit einem Durchmesser von bis zu 8 Zoll aufnehmen kann. Um seine Flexibilität weiter zu verbessern, ist es möglich, optionales Zubehör einschließlich Probenhalter für Normen, Wafersubstrate und eine motorisierte Stufe für den automatisierten Betrieb hinzuzufügen. Die erweiterten Funktionen von JSM 6700F ermöglichen die Verwendung für eine Vielzahl von Anwendungen. Seine hohe Auflösung ermöglicht die Abbildung feiner Details auf der Oberfläche einer Probe. Es kann auch für die Zusammensetzungsanalyse mit energiedispersiver Röntgen- (EDX) Spektroskopie, Auger-Spektroskopie und Elektronenfangtechniken verwendet werden. Darüber hinaus eignen sich die große Kammer und die automatisierte Bühne für die 3D-Bildgebung und Topographie-Analyse, sodass der Anwender ganze Proben analysieren und abbilden kann. Zusätzlich zu seinen hervorragenden bildgebenden und analytischen Fähigkeiten ist JSM 6700 F auch mit einer Vielzahl von Sicherheitsfunktionen ausgestattet, um den Schutz des Benutzers während des Betriebs zu gewährleisten. Es umfasst ein Vakuumverriegelungssystem, einen Not-Aus-Schalter und ein Überlastschutzsystem. JEOL JSM 6700F ist ein vielseitiges und leistungsstarkes SEM, das hervorragende bildgebende und analytische Funktionen bietet. Sein heller Elektronenstrahl, seine große Kammer und sein vielfältiges Zubehör ermöglichen es, ihn für eine Vielzahl von Anwendungen zu verwenden. Es verfügt auch über eine Vielzahl von Sicherheitsfunktionen für den Schutz und die Sicherheit des Benutzers.
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