Gebraucht JEOL JSM 6700F #9244394 zu verkaufen

JEOL JSM 6700F ist ein Rasterelektronenmikroskop (Rasterelektronenmikroskop, SEM) für Hochleistungs-Bildgebung in einer Vielzahl von Anwendungen. Dieses SEM ist mit einer fortschrittlichen Feldemissionskanone ausgestattet, die hochwertige Bilder mit einer Auflösung von bis zu 1 nm liefern kann. Dieses Instrument wurde mit einer Elektronen-Pistole-Anordnung entwickelt, die verbesserte Fokussierungs- und Ausrichtungsfunktionen enthält, um die genauesten Bilder von Proben zu erzeugen. Das Gerät ist mit einer flüssigen stickstoffgekühlten Kryo-Ausrüstung ausgestattet, die es ermöglicht, biologische Proben zu erforschen, die auf niedrige Temperaturen gekühlt werden müssen. Es kommt mit einem integrierten Laserinterferometer, das die Genauigkeit der Bühnenbewegung messen und die Messfehler reduzieren kann. Das Instrument verwendet Field Embedded Autotrigger-System, das hochauflösende Bilder aufnimmt. Es verfügt über eine fortschrittliche Probenvorbereitungseinheit, die sowohl Proben erhitzen als auch kühlen kann, sodass Forscher die Wirkung der Temperatur auf Probenstrukturen untersuchen können. JEOL JSM 6700 F verfügt über einen Detektor mit hohem Dynamikbereich, der kontrastreiche Bilder mit niedrigem Rauschpegel erzeugt. Um weiter die Entschlossenheit von Bildern zu verbessern, können Benutzer die Möglichkeit erforschen, eine Maschine von Electron-Beam Charge Compensation (EBCC), ein Gerät zu verwenden, das Elektronen im Elektronbalken für die verbesserte Unähnlichkeit kontrolliert. Die erweiterte Software mit dem Instrument installiert ist in der Lage, fortschrittliche Navigation, Bühnensteuerung und automatische Feature-Erkennung. Die Software kommt auch mit Partikelidentifikation und Sortierung, so dass Benutzer minutengenaue Details aus den Bildern zu studieren. Das SEM wird mit einem fortschrittlichen 3D-Datensatz-Stapelrekonstruktionstool geliefert, mit dem Forscher 3D-Rekonstruktionen aus 2D-Bildern aus dem SEM erstellen können. Dieses Tool hilft bei der Erstellung von 3D-Illustrationen der Beispielstrukturen. Insgesamt ist JSM 6700F ein ausgezeichnetes Rasterelektronenmikroskop für eine Vielzahl von Forschungsanforderungen. Durch die Kombination von fortschrittlichen Hardware- und Softwarefunktionen kann das Instrument hochwertige Bilder mit ausgezeichneter Auflösung erzeugen, sodass Forscher Proben im Detail untersuchen können.