Gebraucht JEOL JSM 6700F #9248482 zu verkaufen

JEOL JSM 6700F Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein fortschrittliches Bildgebungs- und Analyseinstrument zur Charakterisierung von Partikeln im Bereich von 1 µm bis 50 µm. Es bietet eine hervorragende Bildgebungsfähigkeit mit bis zu 5.000 Vergrößerungen und verfügt über eine physikalisch vakuumdichte Kammer für einen sicheren und wiederholbaren Betrieb. JEOL JSM 6700 F ist ein dediziertes SEM, das über seine Elektronensäule hervorragende Probenklarheit bietet. Das Gerät verwendet die neueste elektronenoptische Technologie, so dass Benutzer Partikel aller Größen und Formen einfach und schnell beobachten können. Das SEM wurde entwickelt, um eine breite Palette von Probengrößen, Konfigurationen und Probenmontagetechniken aufzunehmen und bietet optimale Bildgebungsfunktionen in einer Vielzahl von Materialien und Bedingungen. JSM 6700F verfügt über eine integrierte, variable Druckkammer, die mit einem einzigartigen variablen Druckdetektordesign der zweiten Generation verbunden ist. Diese Kombination von Funktionen bietet Bildklarheit und Speicherung durch Minimierung von Ladeeffekten. Das Design des variablen Druckdetektors des SEM ermöglicht auch den Betrieb bei sehr niedrigen Druckniveaus, so dass Benutzer detaillierte Bilder einer Vielzahl von Materialien und Mikrostrukturen aufnehmen können, unabhängig von der Probengröße. JSM 6700 F verwendet eine Vielzahl von Modi und Techniken, von einfacher fester Zwischenvergrößerung bis hin zu hochauflösender Mikrographie. Es ist mit einer Reihe von modenspezifischen Detektoren und bildgebenden Werkzeugen ausgestattet und kann in einer Vielzahl von Probenumgebungen eingesetzt werden, einschließlich der traditionellen Laboreinstellung. Das SEM ermöglicht auch den Betrieb in einer Vielzahl von kontinuierlichen und gepulsten Emissionsmodi und ermöglicht es Benutzern, zwischen verschiedenen Betriebsparametern zu wechseln. Das energiedispersive Röntgenspektrometer (EDS) des SEM ermöglicht eine detaillierte und hochauflösende Elementaranalyse. JEOL JSM 6700F enthält auch eine Reihe von automatisierten Ausrichtungs- und Kalibrierfunktionen, die eine konsistente und zuverlässige Leistung gewährleisten. Darüber hinaus verfügt JEOL JSM 6700 F über eine Reihe von High-End-Funktionen, mit denen Benutzer ihre Daten und Ergebnisse effizient verwalten können. Das SEM verfügt über ein einfach zu bedienendes Datenmanagementsystem und integrierte Reporting-Funktionen, mit denen Benutzer ihre Ergebnisse schnell und einfach melden können. Insgesamt ist JSM 6700F ein fortschrittliches und funktionsreiches SEM, das eine mühelose und zuverlässige Bildgebung und Analyse von Partikeln im Bereich von 1 µm bis 50 µm bietet. Die integrierten Detektoren und bildgebenden Tools, kombiniert mit automatisierten Ausrichtungs- und Kalibrierfunktionen und Datenverwaltungsfunktionen, bieten Anwendern eine umfassende bildgebende und analytische Plattform, die konsistente und genaue Ergebnisse garantiert.