Gebraucht JEOL JSM 6700F #9294954 zu verkaufen

JEOL JSM 6700F ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) von JEOL. Es ist ein fortschrittliches Instrument zur mikroskopischen Bildgebung und Analyse, das sowohl hochauflösende sekundäre als auch rückgestreute Elektronenbilder (BSE) erzeugen kann. Die Ausrüstung ist mit einer großen Probenkammer und einer vierachsigen motorisierten Stufe ausgestattet, die eine präzise Navigationskontrolle des Objekts ermöglicht. Darüber hinaus bietet das System auch eine hohe Vergrößerung und niedrige Vakuumleistung. JEOL JSM 6700 F kann zur Analyse von Oberflächen und Materialien bei Vergrößerungen bis zu 250.000x verwendet werden. Der Elektronenstrahl wird spiralförmig abgetastet, so dass der Benutzer die Größe und Form der Elektronensonde steuern kann. Darüber hinaus ist das Gerät auch mit einem hellen Feld und Differential Interference Contrast (DIC) Optik Maschine ausgestattet, so dass die Beobachtung von kleinen Details in drei Dimensionen. Das Werkzeug ist auch mit einer Reihe von Detektoren ausgestattet, die die Erfassung einer Vielzahl von verschiedenen Bildtypen ermöglichen. Dazu gehören ein Sekundärelektronendetektor, ein rückgestreuter Elektronendetektor, ein EDS-Detektor, ein SE2-Detektor, ein Auger-Detektor und ein Kathodolumineszenzdetektor. Mit diesen Detektoren können Anwender eine Vielzahl von Materialien analysieren und verschiedene Oberflächenmerkmale untersuchen. Der Benutzer kann dem Instrument auch verschiedene Optionen hinzufügen, darunter einen automatischen Bildhefter, einen Hochvakuumbetrieb, eine temperaturgesteuerte Stufe, eine DMS-Analyse und ein Gaseinspritzmodell. Diese Optionen ermöglichen es dem Benutzer, die Funktionen von JSM- 6700F für verschiedene Anwendungen zu erweitern. Schließlich kommt JSM 6700 F Ausrüstung mit fortschrittlicher Software, die volle Kontrolle und Automatisierung des Instruments ermöglicht. Die Software bietet auch Werkzeuge für die Analyse und Abbildung von Daten, einschließlich Werkzeuge für die Erzeugung von Elektronensondenkarten. Damit ist das System eine ideale Wahl für fortschrittliche Oberflächenanalysen und Bildgebung.