Gebraucht JEOL JSM 6700F #9356046 zu verkaufen

JEOL JSM 6700Fis eine Feldhochleistungsemission, Elektronmikroskop scannend (FESEM). Es ist mit einem Multi-Mode-Detektor ausgestattet, der sowohl im sekundären als auch im rückgestreuten Elektronenmodus abbildbar ist. Damit kann das Mikroskop sowohl für bildgebende als auch analytische Anwendungen eingesetzt werden. Das Mikroskop ist außerdem mit einem In-Column-Apertursystem ausgestattet, das „steckbar“ sein kann. Dies erleichtert eine winkelabhängige Bildgebung mit variabler Strahlkonvergenz, wodurch feine Details in komplexen Proben aufgelöst werden können. Die primäre FESEM-Bildgebung zeichnet sich durch gute Bildqualität und Flexibilität aus. Dies wird durch seine ultrahohe Helligkeitsquelle und seine einstellbaren Betriebsparameter wie Beschleunigungsspannung und Strahlstrom erreicht. Das FESEM verfügt zudem über eine volldigitale Hard- und Softwaresteuerung und kann über eine Benutzeroberfläche fernbedient werden. Das FESEM ist auch mit einem Auto-Stage-Scanning-System ausgestattet. Dadurch kann eine Probe in mehrere Richtungen mit Auto-zu-Position-Wiederholbarkeit gescannt werden. Die Bühne verfügt zudem über eine integrierte In-Vakuum-Drehstufe für 3D-Bildgebungsfunktionen. JEOL 6700F FESEM ist auch in der Lage, eine Vielzahl von analytischen Techniken. Es kann für Energy-Dispersive Röntgenspektroskopie (EDS) und Wellenlängen-Dispersive Röntgenspektroskopie (WDS) verwendet werden. Diese Werkzeuge können Elementaranalysen (sowohl qualitativ als auch quantitativ) von Probenkomponenten liefern. Darüber hinaus kann das FESEM für Elektronenenergieverlust-Spektroskopie (EELS) -Messungen verwendet werden, mit denen verschiedene chemische Bindungen in einer Probe identifiziert und quantifiziert werden können. Insgesamt ist JEOL JSM 6700F ein leistungsfähiges und vielseitiges Werkzeug zur Analyse von Materialien in bildgebenden und analytischen Anwendungen. Seine hohen Leistungsmerkmale und seine Fähigkeit, anspruchsvolle analytische Messungen durchzuführen, machen es zu einem wertvollen Instrument für Forscher in den Bereichen Materialwissenschaft, Nanotechnologie und Halbleiterbauelementherstellung.