Gebraucht JEOL JSM 6700F #9384886 zu verkaufen

JEOL JSM 6700F ist ein Feldemissionsrasterelektronenmikroskop (FESEM), das hohe Leistung mit einfacher Bedienbarkeit kombiniert. Diese hochentwickelte FESEM ist in der Lage, hochauflösende Bildgebung und eine Vielzahl von analytischen Techniken für die Charakterisierung einer Reihe von Materialien. Das Design von JEOL JSM 6700 F unterstreicht die Benutzerfreundlichkeit und verwendet eine motorisierte x-y-Bühnen- und Touchscreen-Benutzeroberfläche. Probenbeladung und Bewegung, Bildgebung, Nachweisniveauanpassungen und vieles mehr werden mit der ergonomischen Schnittstelle einfach durchgeführt. Das Gerät ist mit einer Hochleistungs-Elektronenoptiksäule ausgestattet, die sich auf hochauflösende Bildgebung und niedrige Dosierung konzentriert. Es unterstützt auch eine Vielzahl von analytischen Techniken, einschließlich EDS-Analyse und WDS-Analyse, so dass es ideal für eine Reihe von Anwendungen. Die Hochleistungs-Rasterelektronenoptik von JSM 6700F ist optimiert, um elektronenstrahlinduzierte Schäden zu reduzieren, was die Bildgebung mit Submikron-Auflösung und den Betrieb mit niedriger Dosis reduziert. Die hochauflösende Fähigkeit des Mikroskops wird durch den Einbau einer Schottky-Feldemissionskanone, die bei niedriger Beschleunigungsspannung hochkollimierte Elektronenstrahlen erzeugt, weiter verbessert. Die Kombination aus optimierter Elektronenoptik, niedriger Beschleunigungsspannung und Schottky-Pistole führt zu einer überlegenen Bildauflösung und niedrigdosiertem Betrieb. Neben seiner beeindruckenden Auflösung verfügt JSM 6700 F auch über eine breite Palette von analytischen Funktionen. Die energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) und die wellenlängendispersive Röntgenspektroskopie (WDS) werden durch das Sondenstromeinstellsystem und sekundäre Elektronenbildfunktionen unterstützt. Dies ermöglicht die elementare Analyse und Mikroanalyse sowohl organischer als auch anorganischer Proben. JEOL JSM 6700F ist ein vielseitiges und leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop. Es kombiniert fortschrittliche Elektronenoptik und einzigartige Funktionen wie eine Schottky-Pistole, um außergewöhnliche Auflösung und analytische Fähigkeiten mit minimaler Strahlenbelastung der Proben zu liefern. Diese Kombination von Merkmalen schafft ein ideales Werkzeug für eine Vielzahl von Materialien und Materialforschung.