Gebraucht JEOL JSM 6700F #9402131 zu verkaufen
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ID: 9402131
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Computer control
Imaging
Semi in-lens
Resolution: 1280 x 1024 Pixels
EDS with variety of detectors
GUI Interface
Mouse
Operating system: Windows 7
Cold cathode field emission electron gun
Electromagnetic deflection alignment
Conical objective lens
Conical FE Gun
Specimen chamber, 8"
Resolution:
1.0 nm at 15 kV
2.2 nm at 1 kV
Magnification:
LM Mode: 25 - 19,000
SEM Mode: 100 - 650,000
Modes of operation:
Secondary Electron (SE) mode
With lower SE Detector
In-Lens detector with voltage filter
Backscattered Electron (BSE) mode
With retractable solid state
THERMONORAN VANTAGE X-Ray microanalysis system
Power supply:
Accelerating voltage: 0.5 - 30kV
Specimen illumination current: 10^-13A to 2 x 10^-9A.
JEOL JSM 6700F ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM). Dieses spezielle SEM ist sehr vielseitig einsetzbar und verfügt über erweiterte bildgebende Funktionen, was es zu einer ausgezeichneten Wahl für viele fortgeschrittene bildgebende Anwendungen macht. JEOL JSM 6700 F ist mit einer Feldemissionskanone (FEG) Elektronenquelle entworfen und konstruiert, die eine ausgezeichnete Energieauflösung und minimale Strahldrift gewährleistet. Dieses Modell ist mit einem Everard Tilly In-Lens-Ionen-Detektor und OMISA Omnispectral-Detektor ausgestattet, die einen optimalen Bildfokus und eine optimale Qualität bieten und gleichzeitig eine breite Palette von bildgebenden Funktionen bieten. Weitere Merkmale von JSM- 6700F sind ein digitales Scan-Kontrollsystem, ein Leuchtmittel, ein Ionendetektor mit Beugungsfunktionen und ein hochauflösendes digitales Kamerasystem. JSM 6700 F ist in der Lage, eine ausgezeichnete bildgebende Auflösung bis zu 1,5 nm oder weniger bereitzustellen, was es ideal für anspruchsvolle Anwendungen wie die Kleinbildgebung der zellulären Struktur und der Partikeloberflächentopographie macht. Darüber hinaus ermöglicht die automatisierte Scan-Steuerung eine schnelle und präzise Probennavigation und Bildgebung, was zu mehr Effizienz und Zuverlässigkeit führt. Dieses Modell verfügt auch über Feldemissions- und Sekundärelektronen-Bildgebungsfunktionen, die es Anwendern ermöglichen, sowohl topographische als auch kompositorische Details zu erfassen. JEOL JSM 6700F ist ein robustes, zuverlässiges und vielseitiges SEM, das höchsten bildgebenden und analytischen Anforderungen gerecht wird. Es ist ein ideales Werkzeug für diejenigen, die eine detaillierte Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Proben durchführen möchten, von Zellen und Nanopartikeln bis hin zu Materialien und integrierten Schaltungen. Dieses Modell verfügt über eine Digitalkamera für eine verbesserte Bildgebungssteuerung, einen hellen Lichtbeleuchter für die Probenbesichtigung und eine breite Palette von bildgebenden und analytischen Fähigkeiten, so dass es eine ideale Wahl für eine breite Palette von experimentellen Anwendungen ist.
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