Gebraucht JEOL JSM 7000F #293622852 zu verkaufen

JEOL JSM 7000F ist eine Art Rasterelektronenmikroskop (SEM). Es ist eine leistungsstarke Ausrüstung, die eine beispiellose Auflösung und analytische Leistung bietet, die es Anwendern ermöglicht, mikroskopische Strukturen sehr detailliert zu beobachten und zu analysieren. Das fortschrittliche optische System von JEOL JSM 7000 F liefert eine scharfe, kontrastreiche Abbildung feiner Details. Das Gerät ist mit einer CCD-Kamera ausgestattet, die hochauflösende Bilder und eine leistungsstarke optische Vergrößerungsleistung bietet. JSM 7000F ist sowohl für Wasserstoff- als auch für Differentialmodusanalysen konzipiert. Es ist in der Lage, Spurenelemente in hoher Detailtreue zu erkennen. Die Maschine verfügt zudem über ein vollautomatisiertes automatisiertes Bildgebungswerkzeug, das eine schnelle und präzise Erfassung von Bilddaten ermöglicht. JSM 7000 F ist auch in der Lage, mehrere energiedispersive Röntgen- (EDX) spektroskopische Analysen durchzuführen. EDX-Spektroskopie wird verwendet, um elementare Zusammensetzungen im Mikrometermaßstab und andere mikroskopische Merkmale zu analysieren. Dies ermöglicht die Identifizierung der in einer Probe vorhandenen Elemente sowie deren Größe und relative Intensität. Die 700F ist auch in der Lage, EDX-Spektroskopieuntersuchungen durchzuführen, bei denen Halbleiter untersucht werden. JEOL JSM 7000F ist auch für Anwendungen mit hochauflösendem Rasterelektronenmikroskop (HR-SEM) konzipiert. Die Anlage ist mit einer hochauflösenden Spaltensteuerung (HRCCU) ausgestattet, die eine präzise Steuerung der Detektorauflösung und Vergrößerungsleistung ermöglicht. Dies ermöglicht die präzise Abbildung von Mikrometer-Signalen sowie deren Erfassung in hochauflösenden Bildern. JEOL JSM 7000 F enthält auch viele leistungssteigernde Komponenten wie eine automatisierte Stufenkippsteuerung, die es dem Modell ermöglicht, Proben weiter zu analysieren. Die Software des Geräts bietet auch eine breite Palette von Bildverarbeitungs- und Analysetools, um die Auswertung von Daten zu unterstützen und das Verständnis der zu untersuchenden Strukturen zu verbessern. Insgesamt ist JSM 7000F ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das detaillierte Bilder und Messungen von mikroskopischen Strukturen liefern kann. Das fortschrittliche optische System, die automatisierte Bildverarbeitungseinheit und verschiedene leistungssteigernde Komponenten machen es zu einer idealen Maschine für die Elektronenmikroskopie.