Gebraucht JEOL JSM 7000F #293634856 zu verkaufen

JEOL JSM 7000F ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das verwendet wird, um die Oberfläche und Struktur einer Vielzahl von Materialien zu beobachten. Die Ausrüstung ist gut ausgestattet, um fortschrittliche bildgebende und analytische Anforderungen wie 3D-Oberflächenbildgebung, hochauflösende Bildgebung, EDS, WDS, hochauflösende Gitterbildgebung, Röntgenbildgebung und vieles mehr zu erfüllen. SEM-Technologie ist ein unschätzbares Werkzeug für die Untersuchung einer breiten Palette von Materialien, von organischen bis anorganischen, Metallen, Mineralien, Kristallen und mehr. Beispielsweise ist JEOL JSM 7000 F in der Lage, Bilder mit einer Auflösung von mehr als 3 nm zu erzeugen, wenn eine Wolfram-Filament-Elektronenquelle verwendet wird. Die ultrahohe Abtastgeschwindigkeit von 10.000 μ m/s ermöglicht eine schnelle Objektabtastung, während die Hochvakuumkammer größere Flächen detaillierter untersucht. Weitere Merkmale dieses Systems sind eine UPS Field Emission Gun (FEG), um eine hochauflösende Abbildung von Proben mit einer Größe von bis zu 2 nm, eine schnellere Leistung aufgrund eines niedrigeren Betriebsdrucks und das Potenzial für In-situ-Experimente zu ermöglichen. Das Gerät umfasst eine Vielzahl von bildgebenden Zubehörteilen, wie Interferenzfilter, Bühnensteiger und Halter und andere mechanische Komponenten, die während eines Experiments zur Bearbeitung von Komponenten verwendet werden können. Darüber hinaus ermöglichen erweiterte energiedispersive Spektroskopie (EDS), Wellenlängen-Dispersionsspektroskopie (WDS) und Röntgenabbildungsfunktionen den Anwendern eine detailliertere Analyse ihrer Proben. In Bezug auf analytische Anwendungen können JSM- 7000F verwendet werden, um elementare Kartierungen auf verschiedenen Materialien wie Metallen, Legierungen, Biomaterialien, Halbleitern und mehr durchzuführen. Es ist in der Lage, Materialien auf atomarer und nanoskaliger Ebene abzubilden, und die Zugabe der FEG-Pistole ermöglicht die Abbildung noch kleinerer Objekte. Darüber hinaus ist die Maschine mit einer Vielzahl von Softwarepaketen ausgestattet, mit denen Benutzer Bilder verschiedener Mustertypen erfassen, analysieren und manipulieren können. Insgesamt ist JSM 7000 F ein fortschrittliches und zuverlässiges Rasterelektronenmikroskop, das sich für eine Reihe von Anwendungen von der Bildgebung bis zur elementaren Abbildung eignet. Seine Funktionen, wie ultra-high-resolution augment Benutzerfunktionen und machen es zu einer idealen Wahl für fortgeschrittene Bildgebung und analytische Anforderungen.