Gebraucht JEOL JSM 7000F #293732137 zu verkaufen

ID: 293732137
Field Emission Scanning Electron Microscopes (FE-SEM).
JEOL JSM 7000F Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein analytisches Instrument zur Bildgebung und Charakterisierung von Proben bei extrem hoher Vergrößerung. Es arbeitet, indem es einen fokussierten Elektronenstrahl über eine Probe abtastet und ein Signal seiner Wechselwirkung mit der Probe erzeugt, das dann zur Bildbildung verwendet wird. JEOL JSM 7000 F ist eine Feldemitterquelle SEM, die eine ausgezeichnete Energieauflösung, eine niedrige Stromdichte und eine ausgezeichnete Stabilität des Strahls bietet. Diese Stabilität erhöht die Bildauflösung und ermöglicht es dem Benutzer, detaillierte Bilder mit hoher Empfindlichkeit zu erfassen. JSM 7000F hat drei Hauptkomponenten: die elektronenoptische Säule, den Abtastgenerator und das Detektorsystem. Die elektronenoptische Säule enthält die Komponenten, die den Elektronenstrahl erzeugen und fokussieren, einschließlich Elektronenquelle, Kondensatorlinsen, Zwischen- und Objektivlinsen sowie Probeneintritts- und Austrittsschlitze. Der Abtastgenerator ist für die Steuerung des Strahls in seinem x, y Bewegungsmuster verantwortlich, um ein digitalisiertes Bild aus der Probe zu gewinnen. Schließlich umfasst das Detektorsystem sekundäre und rückgestreute Elektronendetektoren sowie Detektoren, die sowohl für die elementare als auch für die Röntgenbildgebung entwickelt wurden. JSM 7000 F verfügt über eine breite Palette von Fähigkeiten, einschließlich sowohl Standardmodi wie Secondary Electron (SE) Imaging und Low Vacuum SE (LVSEM) Imaging, sowie fortgeschrittenere Modi wie Backscattered Detector (BSE) Imaging, Low Vacuum BSE-Analyse. Es verfügt auch über eine automatisierte Bühne mit motorisierten Reisen in x-, y- und z-Richtung, so dass der Benutzer Bilder mit hoher Genauigkeit ohne manuelle Zentrierung aufnehmen kann. Darüber hinaus verfügt JEOL JSM 7000F über eine hohe Energieauflösung von bis zu 0,01 eV und ermöglicht eine tiefe und detaillierte Abbildung der Probe. JEOL JSM 7000 F ist eine ausgezeichnete Option für die Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Probentypen, so dass es ideal für Werkstoffwissenschaften Labors, medizinische Forschung und Geräteherstellung. Seine überlegene Stabilität und Energielösung sowie seine fortschrittlichen Fähigkeiten und die automatisierte Inszenierung machen es zu einem zuverlässigen und leistungsstarken Instrument für Forscher in jedem Bereich.
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