Gebraucht JEOL JSM 7000F #293748718 zu verkaufen

JEOL JSM 7000F ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das von JEOL als Teil ihrer 7000F Familie von Rasterelektronenmikroskopen entwickelt wurde. Es ist eine aktualisierte Version der vorherigen 6000F und wurde mit erweiterten Funktionen entwickelt, um eine präzise Bildgebung und Analyse zu ermöglichen. JEOL JSM 7000 F ist ein temperaturgesteuertes SEM, das einen Kaltfeldemitter verwendet, um einen fokussierten Elektronenstrahl zu erzeugen. Dieser Strahl wird auf die Probe gerichtet, die dann ein verbessertes Signal im Vergleich zu den 6000F Modellen zurückgibt. Dies ermöglicht dem 7000F eine höhere Auflösung. Darüber hinaus ist das 7000F aufgrund seiner verbesserten Fokustiefe in der Lage, ein genaueres und verbessertes 3D-Bild der Probe zu erzeugen. Das Automated Focus Enablement System (AFES) hilft dabei, die optimale Fokussierung für jedes aufgenommene Bild zu erreichen. JSM 7000F nutzt auch seinen großen Arbeitsabstand, bis zu 33mm zwischen Probe und Objektiv, um ein klares Bild zu erzeugen, ohne dass die Probe in direktem Kontakt mit den Linsen stehen muss. Dieser größere Arbeitsabstand macht die 7000F ideal für die Abbildung von Proben anfällig für Schäden, wie Nanomaterialien. JSM 7000 F verfügt auch über eine automatisierte Stufe, die eine erhöhte Stabilität und Zuverlässigkeit beim Bewegen der Probe ermöglicht. Gepaart mit seiner hohen Flexibilität, kann es verwendet werden, um eine breite Palette von Proben zu untersuchen, einschließlich Materialien aller Formen und Größen. Die 7000F ist auch in der Lage, Hochtemperaturmaterialien zu untersuchen, sowie gefrorene Proben bis -100 Grad Celsius. Dies wird durch die Verwendung eines Gatan Enfinium Kryo-Stufe und flüssigen Stickstoffkühlung Zubehör erreicht, so dass der Benutzer qualitativ hochwertige Bilder von Proben zu nehmen, die gefroren sind. JEOL JSM 7000F ist in der Lage, detaillierte, hochauflösende Bilder zu erzeugen und bleibt ein effektives Werkzeug für die Untersuchung von fast jeder Art von Probe für die Bildgebung und Analyse. Mit seinem verbesserten Signal-Rausch-Verhältnis, dem flexiblen Design und der automatisierten Stufe bleibt es ein wichtiges Instrument, um Forschern dabei zu helfen, Proben mit Genauigkeit und Präzision zu untersuchen.