Gebraucht JEOL JSM 7000F #293811118 zu verkaufen

JEOL JSM 7000F ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) zur Bildgebung und Analyse der physikalischen und chemischen Zusammensetzung von Proben in der Materialwissenschaft. Das SEM verwendet einen fokussierten Elektronenstrahl, um eine Probe abzutasten und erzeugt vergrößerte Bilder und elementare Karten mit überlegener Genauigkeit und Auflösung bis hin zur Nanometerskala. Dieses spezielle Modell von SEM ist mit einer dreistrahligen Pistole ausgestattet, die eine Reihe von Strahlenergien und Stromdichten bietet, die für eine Vielzahl von bildgebenden und analytischen Anwendungen erforderlich sind. Es ist mit einer Kaltfeld-Emissionskanone (FEG) ausgestattet, und der Anodenspannungsbereich der Quelle ist für eine maximale Auflösung von 3 nm 10-30kV. Die zusätzlichen aus dem FEG verfügbaren Strahlströme führen zu einem deutlich verbesserten Bildkontrast und -auflösung. Das 7000F verfügt über eine vollautomatische Probenstufe, integrierte automatisierte Navigation, automatisiertes EDS- und GridLine-Scannen und eine beschleunigte Verweilzeit, die eine Hochgeschwindigkeitsbildgebung ermöglicht. Es ist auch mit einer breiten Palette von Probentypen kompatibel, darunter dünne Filme, Nanostrukturen, Halbleiter und organische Materialien sowie energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) für die Elementaranalyse. 7000F verwertet eine hingebungsvolle Hochgeschwindigkeitsbildverarbeitungskarte und ein hohes Öffnungslinsensystem, das das schnelle, genaue Verfolgen und die Verarbeitung von Bildern berücksichtigt. Diese Karte ermöglicht auch die einfache Integration einer Reihe von Schnittstellen und Anwendungen wie automatisierte Navigation, hochauflösende Bildgebung, rückgestreute Elektronenbildgebung, automatisiertes Scannen und elementares Mapping. Das 7000F verfügt über erweiterte bildgebende Funktionen und ist mit hochwertigen Materialien gebaut, um seine Haltbarkeit und Leistung zu maximieren. Seine integrierten Detektoren und Elektronik sind gut für bildgebende und analytische Anforderungen geeignet, während seine intuitive Schnittstelle eine einfache Bedienung und Steuerung ermöglicht. Insgesamt ist JEOL JSM 7000 F ein hochentwickeltes SEM, das beispiellose Bildgebungs- und Analysefunktionen für eine Vielzahl von Materialien bietet. Die fortschrittlichen Funktionen, die intuitive Benutzeroberfläche und die umfassende Leistung machen dieses Mikroskop zu einer idealen Wahl für Materialforscher und Anwendungen wie Fehleranalyse, Qualitätskontrolle und Nanomaterialcharakterisierung.