Gebraucht JEOL JSM 7000F #293824803 zu verkaufen

JEOL JSM 7000F ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das zur Bildgebung und Analyse auf Submikrometerebene verwendet wird. Es ist mit fortschrittlichen Funktionen ausgestattet, darunter hochauflösende Bildgebung, analytische Fähigkeiten und eine Kaltfeld-Emissionskanone (FEG). JEOL JSM 7000 F verwendet für seine Elektronenquelle ein FEG, das eine höhere Helligkeit und bessere Leistung für Niederspannungsanwendungen wie STEM-Bildgebung und Low-kV EDX bietet. JSM 7000F ist mit einem hochauflösenden Hohlspiegel ausgestattet und arbeitet bei Hochspannung bis zu 30kV. Es ist in der Lage, hochauflösende Bilder mit einer Auflösung von 1,0 nm bei 15kV zu erzeugen. Darüber hinaus kann JSM 7000 F sowohl im statischen als auch im dynamischen Scanmodus arbeiten, was Vielseitigkeit für die SEM-Anwender bietet. JEOL JSM 7000F kann auch mit einer ganzen Reihe von Detektoren und analytischen Systemen wie EDX, WDX und CL ausgestattet werden. Da die Elektronenkanone bei einer kälteren Temperatur arbeitet, ist sie zu einer höheren Stabilität fähig, was zu einer verbesserten Leistung für EDX führt. WDX und CL liefern auch verbesserte elementare und kompositorische Informationen der zu untersuchenden Probe. Für die Bildgebung verwendet JEOL JSM 7000 F je nach Anwendung eine Reihe von Betriebsarten. Die SEM-Bildgebung wird durch Standard-Sekundärelektronen (SEM) und rückgestreute Elektronen (BSE) für Bilder mit niedrigem bzw. hohem Kontrast erreicht. Darüber hinaus kann das Mikroskop auch im Modus der Rasterübertragungselektronenmikroskopie (STEM) abbilden, der eine Querschnittsabbildung von mikrometergroßen Objekten ermöglicht. Abschließend ist JSM 7000F ein robustes, hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop, das eine ausgezeichnete Palette von bildgebenden und analytischen Fähigkeiten bietet. Die fortschrittliche FEG-Elektronenquelle bietet eine hervorragende Leistung, während ihre statischen und dynamischen Abtastmodi sie zu einem idealen Instrument für viele Anwendungen machen.