Gebraucht JEOL JSM 7000F #9145727 zu verkaufen

JEOL JSM 7000F ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für hervorragende bildgebende und genaue analytische Fähigkeiten entwickelt wurde. Es ist mit einer Feldemissionselektronenquelle und einem umweltfreundlichen Tribo- gun™ für höhere einfallende Elektronenströme und verbesserten Kontrast ausgestattet. Der Strahl hat eine maximale Beschleunigungsspannung von 30kV, um eine ausgezeichnete Auflösung und eine größere Fokustiefe als herkömmliche SEMs zu bieten. Weitere Merkmale sind Kaltfeld-Emissionen, kleine Spotgrößen von etwa 1-2nm, hohe Helligkeit und minimaler Astigmatismus. JEOL JSM 7000 F bietet einzigartige bildgebende Funktionen für eine breite Palette von Materialien und Anwendungen, einschließlich Halbleiter, Nanomaterialien, Verbundwerkstoffe, medizinische Proben und vieles mehr. Die Elektronenquelle bietet hervorragende Ultraniederspannungsbilder zur Abbildung hochleitfähiger und/oder magnetischer Materialien bei niedrigeren Spannungen als typische SEM-Systeme. Die hochauflösende Bildgebungsfähigkeit ermöglicht es Ihnen, subtile Merkmale und Defekte leicht zu identifizieren, während die überlegene Tiefenschärfe robuste quantitative Messungen an jedem Teil der Probe ermöglicht. Das Mikroskop ist außerdem mit einer koaxialen Pistolenlinse und einem Arbeitsabstand von 12 -36 mm ausgestattet. Dadurch kann der Benutzer den Arbeitsabstand und die Auflösung einfach und schnell ändern. JSM 7000F wird auch mit fortschrittlichen Bildgebungswerkzeugen wie automatischer Kontrast- und Helligkeitsanpassung, simultaner Bildgebung in mehreren Sichtfeldern und automatischer Fokusanpassung geliefert. Für analytische Zwecke ist JSM 7000 F mit einem voll integrierten EDS-Detektor ausgestattet. Diese energiedispersive Spektroskopietechnologie ist für eine schnelle, genaue Elementaranalyse in einer Vielzahl von Anwendungen optimiert. Die Präzisionsmusterstufe sorgt für eine reibungslose, schnelle Bewegung beim Scannen und Röntgenmapping. Insgesamt ist JEOL JSM 7000F ein leistungsstarkes, leistungsstarkes SEM, das eine ausgezeichnete Bildgebung und genaue Analyse für eine Vielzahl von Proben bieten kann. Die fortschrittliche Elektronenquelle, die Präzisionsmusterstufe und der integrierte EDS-Detektor machen es zu einer idealen Lösung für die bildgebende und elementare Analyse.