Gebraucht JEOL JSM 7000F #9227135 zu verkaufen

JEOL JSM 7000F ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das Betreibern umfassende Analysefähigkeiten und eine überlegene bildgebende Auflösung bietet. Das Instrument verfügt über ein Ultrahochvakuum (UHV) -System, fortschrittliche Kontrasttechnologien und ein breites Spektrum an analytischem Zubehör. Als Ergebnis ist JEOL JSM 7000 F weit verbreitet für eine Vielzahl von Anwendungen, wie Neurowissenschaftsforschung, Materialwissenschaft, industrielle Fehleranalyse und forensische Untersuchung. JSM 7000F hat eine 20 mm Spaltgröße und eine breite Palette von unterstützenden Strombereichen, so dass Benutzer Proben in hoher Auflösung und feinem Detail untersuchen können. Die Feldemissionsquelle des Geräts ermöglicht auch eine höhere Auflösung bei niedrigeren Betriebsspannungen, was zu höheren Signal-Rausch-Verhältnissen und verbessertem Kontrast führt. Darüber hinaus bietet das UHV-System eine ausgezeichnete Probenstabilität und erleichtert das schnelle und einfache Be-/Entladen von Proben. Für JSM 7000 F stehen analytische Komponenten zur Verfügung: Elektronenrückstreuung (EBSD), energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS), Röntgenabbildung und elektroneninduzierte Röntgenemission (EIKE). Diese Komponenten ermöglichen es dem Instrument, rasch detaillierte Informationen über Struktur, Zusammensetzung und Eigenschaften einer Probe zu erhalten. JEOL JSM 7000F kann auch mit SPM-Sonden und komplementären Techniken wie Raman-Spektroskopie integriert werden, um seine analytischen Fähigkeiten weiter zu verbessern. JEOL JSM 7000 F ist mit zahlreichen Software-Steuerungstools ausgestattet, die es Anwendern ermöglichen, die Leistung des Mikroskops zu überwachen, zu optimieren und zu maximieren. Einige der zur Verfügung gestellten Software-Steuerelemente umfassen Bildstapelung, automatische Bildnähte und Videoaufzeichnung. Auf diese Weise können Benutzer Daten für die nachfolgende Analyse einfach erfassen. Das Mikroskop verfügt zudem über eine intuitive Benutzeroberfläche, die dem Bediener einen schnellen Zugriff auf alle Bedienelemente und Funktionen ermöglicht. Insgesamt ist JSM 7000F eine ausgezeichnete Wahl für diejenigen, die ein leistungsstarkes, leistungsstarkes SEM für fortgeschrittene, analytische Forschung suchen. Mit seinem UHV-System, einer breiten Palette an Analysefähigkeiten und intuitiver Software liefert das Instrument hervorragende Ergebnisse für eine Vielzahl von Anwendungen.