Gebraucht JEOL JSM 7000F #9279675 zu verkaufen
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ID: 9279675
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Computer
Detectors:
Secondary Electron Image (SEI)
Backscatter (BEI-TOPO/COMPO)
Electron Backscatter Diffraction Detector (EBSD).
JEOL JSM 7000F ist eine Niedrigstromspannungsfeldemissionsabtastung des Elektronmikroskops (SEM). Es ist ein leistungsfähiges Werkzeug für die Bildgebung und Analyse von Oberflächen bei hohen Vergrößerungen, ermöglicht hochauflösende Abbildung einer Reihe von Materialien, von weichen biologischen Materialien zu harten metallischen und keramischen Substanzen. JEOL JSM 7000 F verwendet eine Schottky-Elektronenfeldemissionskanone, die die Emission von Elektronen hoher Helligkeit mit geringem Hintergrundrauschen ermöglicht. Dies ermöglicht überlegene Auflösung und Kontrast, mit Bildern mit einer Auflösung von bis zu 2nm. Die hohe Abbildungsqualität des SEM wird durch das fortschrittliche Softwaresystem, das über eine Reihe von voreingestellten Funktionen verfügt und für verschiedene Analysearten angepasst werden kann, weiter gesteigert. JSM 7000F verfügt auch über eine variable Druckkammer, die den Betrieb bei Drücken von Hochvakuum bis Atmosphäre ermöglicht. Dies ermöglicht die Beobachtung von Proben in ihrer nativen Umgebung sowie die Beobachtung der Hochdruckeffekte auf Beobachtungen und das sekundäre Elektronensignal. Weitere Merkmale dieses SEM sind eine große Probenkammer mit motorisierter Probenstufe und einem großen Sichtfeld (bis 50mm), so dass größere Proben untersucht werden können. Das Hochleistungsdigitalbildanschaffungssystem berücksichtigt die Festnahme von bis zu fünf Rahmen pro Sekunde mit einer breiten Reihe, Techniken, wie Backscattered-Elektronen (BSE), Zusammensetzungskarte (EDX) und Phase/Kristallographie (EBSD) darzustellen. Das SEM ist sehr benutzerfreundlich, mit einem Touchscreen-Display und einer intuitiven Benutzeroberfläche, so dass Benutzer einfach verschiedene Einstellungen und Messungen konfigurieren können. Es kommt auch mit einer Reihe von speziellen Zubehör, wie Detektoren, Probenhalter, Probenvorbereitungssysteme und bildgebende Systeme, ermöglicht die Anpassung von JSM 7000 F für bestimmte Arten von Analyse. Insgesamt ist JEOL JSM 7000F ein äußerst vielseitiges und leistungsstarkes SEM mit hochauflösenden Bildgebungs- und Analysefunktionen, einer einstellbaren Druckkammer und einer benutzerfreundlichen Schnittstelle. Diese Eigenschaften machen es zu einem idealen Instrument für eine breite Palette von Bildgebungs- und Analyseanwendungen, von der Materialwissenschaft bis zu den Biowissenschaften.
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