Gebraucht JEOL JSM 7001F #293606612 zu verkaufen

JEOL JSM 7001F ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit einem fortschrittlichen automatisierten System, das zuverlässige und reproduzierbare Bilder sowohl in der Umwelt als auch im kontrollierten Ultrahochvakuum-Modus bereitstellen kann. Es verfügt über eine Feldemissionselektronenkanone, einen großen Arbeitsabstand von 980 mm, ein Vakuum von 5x 10-7 Torr, eine Auflösung bis zu 4,0 nm und eine Digitalkamera zur Begrenzung von Informationsverlusten. Die Feldemissionselektronenkanone besteht aus einem Filament, einem Fokussiergitter und Polstücken, die eine Strahlbeschleunigungsspannung von 0,05 bis 30 keV ermöglichen. Diese Pistole kann die Beschränkung von Elektronen erhöhen, was eine hochauflösende Abbildung bei hohen Vergrößerungen und schnellen Arbeitsgeschwindigkeiten ermöglicht. Der große Arbeitsabstand ermöglicht den Einsatz der Standard-SE- und BSE-Detektoren sowie der neueren EDX-Detektoren, wobei die Probe nie die Bühne berühren muss, was das Risiko einer Kontamination reduziert. Das Vakuumsystem besteht aus einer Rotationspumpe und einer Diffusionspumpe, die einen Ultrahochvakuum von 5x 10-7 Torr in der Säule erreichen. Die Auflösung von JEOL JSM-7001F beträgt 4,0 nm bei einer beschleunigenden Spannung von 5-15keV, wodurch es in der Lage ist, auch die kleinsten Merkmale in Ihrer Probe abzubilden. JSM 7001F enthält eine Digitalkamera, um sicherzustellen, dass Bilder genau erfasst und gespeichert werden. Es verfügt auch über eine FIB (Focus Ion Beam) Fähigkeit, die eine genaue Querschnittsanalyse der Probe ermöglicht. Dieses SEM ist mit Funktionen wie automatisierter Navigation ausgestattet, die hilft, interessante Merkmale in der Probe schnell zu finden oder zwischen zwei Punkten zu messen. Diese Fähigkeit ermöglicht eine schnellere Analyse von Proben, insbesondere wenn mehrere Bilder aufgenommen oder verglichen werden müssen. Abschließend ist JSM-7001F ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop mit einer Feldemissionselektronenkanone, einem großen Arbeitsabstand von 980 mm, einem Ultrahochvakuum von 5x 10-7 Torr, einer Auflösung von 4,0 nm bei einer beschleunigenden Spannung von 5-15keV und einer Digitalkamera. Dieses SEM ist in der Lage, präzise FIB-Analyse, automatisierte Navigation und ist für die schnelle Analyse mehrerer Bilder konzipiert.