Gebraucht JEOL JSM 7001F #293815937 zu verkaufen

JEOL JSM 7001F Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein hochentwickeltes analytisches Instrument zur Charakterisierung von Materialien im Nanoskala. Dieses Modell bietet eine hervorragende Auflösung mit einer räumlichen Auflösung von 1,0 nm und einer minimalen Funktionsgröße von bis zu 0,7 nm. Mit Hilfe eines Elektronenstrahls werden Bilder erzeugt, indem die Oberfläche einer Probe abgetastet und die aus der Probe zurückgestreuten Elektronen detektiert werden. Das Instrument ist in der Lage, monochrome und farbige sekundäre Elektronenbilder (SEIs) sowie hochauflösende rückgestreute Elektronenbilder (BSEs) zu erzeugen. Es können mehrere Analysetechniken implementiert werden, darunter die Energiedispersive Spektroskopie (EDS), die hochwinklige ringförmige Dunkelfeldbildgebung (HAADF-STEM) und die Elektronenrückstreuung (EBSD). Das Mikroskop ist mit einer Anti-Kontamination-Einheit zur Reduzierung der Oberflächenaufladung der Probe durch Elektronenstrahlen ausgestattet. JEOL 7001F SEM verfügt auch über drei Richtungen in situ-Stufenmanipulationen, die die Beobachtung von Merkmalen aus mehreren Richtungen ermöglichen, ohne die Probe oder das Objektiv manuell bewegen zu müssen. Das System verfügt über eine 20 keV Feldemissionskanone, die eine hohe Strahlstromstabilität und niedrige Bilddriftraten bietet und die Stabilität von SEI-Kontrast und Helligkeit gewährleistet. Darüber hinaus arbeitet das Mikroskop mit der neuesten Elektronenoptik, die höchste Genauigkeit und Detailgenauigkeit der Probenanalyse erreichen kann. Das Mikroskop kann in mehrere Software-Suiten für Bildgebung und Analyse integriert werden und ermöglicht eine breite Palette von Messungen und Analysefunktionen. JEOL 7001F SEM ist eine ausgezeichnete Wahl für Nanoforschung in der Materialwissenschaft, da es sehr genau, vielseitig und effizient ist.