Gebraucht JEOL JSM 7001F #9260022 zu verkaufen

JEOL JSM 7001F ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das Elektronenstrahlbildgebung verwendet, um hochauflösende Bilder von Proben zu erhalten. Es verfügt über einen Wolfram-Filament neben der Probenkammer, so dass für eine hohe Energie Elektronen, die durch das Filament für größere Vergrößerungen zu bewegen. JEOL JSM-7001F kann Proben bis zu 200.000x vergrößern und sein Elektronenstrahl hat eine Punktgröße von 4nm. Seine Vakuumsysteme ermöglichen einen sehr stabilen Betrieb und eine ausgezeichnete Bildqualität. Das Mikroskop kommt mit den Standard-Niedervakuum, ultra-niedrigen und variablen Drucksystemen. Seine niedrigen und ultra-niedrigen Vakuumsysteme reduzieren die Cs-Korrektor-Kondensatorblende, um atomare Bildqualität zu ermöglichen. Das variable Druckgerät hilft, optimale Bedingungen für die Beobachtung von luft- und wasserempfindlichen Proben aufrechtzuerhalten und dem Benutzer die Möglichkeit zu geben, den Druck bei Bedarf anzupassen. JSM 7001F verfügt über eine digitale Steuerung und eine digitale Bildgebungseinheit mit einer zweikanaligen Anzeigemaschine. Die Positionsgenauigkeit der Bühnenbewegungen beträgt 0,1 µm und die Probenkammer kann mit einer Vielzahl von Gasen wie Stickstoff oder Argon gefüllt werden. Darüber hinaus ist eine automatisierte Ultra-High-Vakuum-Fähigkeit mit JSM-7001F verfügbar. Die spezielle automatisierte Ultrahochvakuumfähigkeit ermöglicht es Proben, völlig unbeweglich zu sein, was die Präzisionsbildgebung und Manipulation des Elektronenstrahls erleichtert, um extrem kleine Probenmerkmale zu untersuchen. JEOL JSM 7001F enthält auch eine breite Palette von Optionen, Zubehör und Detektoren für höchste Flexibilität. JEOL JSM-7001F ist in der Lage, mehrere Signale zu detektieren, einschließlich sekundärer und rückgestreuter Elektronen, die einen hervorragenden topographischen Kontrast ergeben. Es enthält auch einen kammerinternen Fluoreszenzdetektor, der die Bestimmung der Elementzusammensetzung ermöglicht. Das Imaging-Tool enthält Optionen, die eine vollständige Palette von digitalen Optionen enthalten. Insgesamt ist JSM 7001F ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop, das Elektronenstrahl-Bildgebung verwendet, um hervorragende Auflösung und Kontrast für die Beobachtung einer breiten Palette von Proben zu geben. Die digitale Steuerung des Mikroskops, die hohe Genauigkeit und das dazugehörige Zubehör machen es zu einem wertvollen Werkzeug für die Mikroskopie.