Gebraucht JEOL JSM 7001F #9267101 zu verkaufen

JEOL JSM 7001F ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für eine Vielzahl von mikroskopischen Anwendungen in den Bereichen Materialwissenschaft, Biologie und industrielle Analyse verwendet wird. Mit seinem EverVon-Bildgebungsgerät, einem hochauflösenden BSE-Detektor, einem integrierten Röntgenenergiedispersiven Spektroskopiesystem (EDS) und einer optionalen hochauflösenden EDS-Einheit ist es ein leistungsstarkes Gerät zur Erkundung von Mikrostrukturen. Die hochauflösenden Abbildungsfähigkeiten von JEOL JSM-7001F basieren auf der In-Column-Elektronenoptik, die über einen EverVon-Sekundärelektronendetektor verfügt. Dieser Detektor erzeugt sehr hochauflösende Bilder von Oberflächen und Schnittstellen und liefert detaillierte Einblicke in Probenkomponenten. Die integrierte Röntgen-EDS-Maschine ist in der Lage, bis zu 10 Elemente mit einer räumlichen Auflösung von bis zu 0,3 μ m zu erkennen. Auf diese Weise kann der Benutzer Elemente innerhalb einer Probe schnell und einfach abbilden und weitere Informationen über seine chemische Zusammensetzung erhalten. Zusätzlich kann das optionale hochauflösende EDS-Tool bis zu 63 Elemente mit Auflösungen von 0,2 μ m oder besser erkennen. JSM 7001F hat ein flexibles Säulendesign, das eine breite Palette von Probenhaltern ermöglicht, einschließlich solcher für Querschnitt, Transmissionselektronenmikroskopie und Röntgenmikroanalyse. Die Abtaststufen sind motorisiert und mit B-Achsen-Neigung zur Positionierung der Probe ausgestattet. Durch die B-Achsen-Neigung entfällt ein separates Goniometer. Die motorisierten Scanstufen ermöglichen dem Anwender zudem eine präzise Steuerung der Probenpositionierung und -bewegung. In Bezug auf die Betriebsumgebung ist JSM-7001F vollständig eingeschlossen und verfügt über eine „intelligente“ Vakuumpumpe, die den Betriebsdruck automatisch an die Bedürfnisse der Probe anpassen kann. Darüber hinaus verfügt das EverVon Imaging Asset über Funktionen zur digitalen Bildgebung und Bildverbesserung. Schließlich verfügt JEOL JSM 7001F über eine Reihe von automatisierten Modi zum Schalten, Scannen und Erfassen von Daten. Abschließend ist JEOL JSM-7001F eine ideale Wahl für eine Vielzahl von mikroskopischen Anwendungen. Die hochauflösenden bildgebenden Funktionen, integrierte sekundäre und Röntgen-EDS-Systeme und automatisierte Modi ermöglichen eine effiziente und vollständige Erkundung der Struktur und chemischen Zusammensetzung einer Probe.